Tessent preces

Tessent AnalogTest samazina analogā testa modeļa izstrādi un pārbaudi no inženiertehniskajiem mēnešiem līdz inženiertehniskajām stundām. Tas ir visefektīvākais veids, kā maksimāli palielināt defektu pārklājumu, vienlaikus samazinot testa izmaksas.

Tessent In-System Test nodrošina iegulto aparatūru un nepieciešamo programmatūru, lai ļautu pielietot augstas kvalitātes deterministiskus testa modeļus, vienlaikus samazinot testa laiku salīdzinājumā ar tradicionālo loģiku BIST.

Nodrošiniet augstākās kvalitātes deterministisko skenēšanas testu ar zemākajām ražošanas testa izmaksām, izmantojot patentētu mikroshēmas saspiešanu, lai samazinātu testa datu apjomu un samazinātu testa laiku.

Automatizējiet IEEE 1838 saderīgas aparatūras ģenerēšanu un ievietošanu un definējiet IEEE testa piekļuves arhitektūru 3D sakrautām integrālajām shēmām.

Samaziniet DFT izstrādes laiku un ražošanas testa izmaksas, atvienojot serdes līmeņa un mikroshēmas līmeņa DFT prasības ar Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Iespējot visaptverošu iegulto atmiņu testēšanas, remonta, atkļūdošanas un raksturošanas automatizāciju un integrāciju, izmantojot Tessent MemoryBist.

Iespējojiet ISO 26262 atbilstību ideālajam loģikas iebūvētajam pašpārbaudes risinājumam drošībai svarīgām ierīcēm, piemēram, IC, ko izmanto automobiļu un medicīnas lietojumos.

Apvienojiet automatizāciju un mikroshēmas IP, lai nodrošinātu IC testēšanu un diagnostiku jebkurā transportlīdzekļa funkcionālās darbības brīdī — ISO 26262 standarta pamatprasība.

Samaziniet DFT ieviešanas centienus, optimāli automatizējot Tessent Platform plūsmu hierarhiskam DFT.

Uzlabojiet testa saspiešanas līmeni līdz pat 4X, iespējojiet hierarhisku DFT, loģisko BIST gatavību un skenēšanas ievietošanu, izmantojot Tessent ScanPro.

Racionalizējiet plašu kritisko DFT uzdevumu klāstu, izmantojot šo jauno programmatūru, kas izstrādāta IC dizaina komandām.

Vienkāršojiet augstas pārklājuma kompakto testa komplektu ģenerēšanas procesu. Tessent FastScan spēja pielietot lielākajai daļai jebkura veida dizainu, padara to par daudzpusīgāko pieejamo ATPG risinājumu.

Nodrošiniet automatizāciju un integrāciju ar IEEE 1687 IJTAG atbilstošu testu un instrumentu IP no dažādiem avotiem IC dizainā.

Automatizējiet IEEE 1149.1 standarta robežu skenēšanas atbalsta pievienošanu jebkura izmēra vai sarežģītības IC, samazinot izstrādes centienus un uzlabojot laiku nonākšanai tirgū.

Simulējiet tranzistora līmeņa defektus analogajām, jaukta signāla un neskenētām digitālajām shēmām, automatizējot pārklājuma novērtēšanu, lai palīdzētu izpildīt tādus kvalitātes standartus kā ISO 26262.

Izmantojiet izkārtojumu apzinātas un šūnās apzinātas diagnostikas tehnoloģijas, lai precīzi klasificētu un identificētu defektu atrašanās vietu, kas ražošanas testu laikā izraisa kļūmes.

Paātrināt testa ieviešanu, atkļūdošanu un silīcija raksturošanu ierīcēm, kas satur Tessent ATPG, EDT, BIST un/vai IJTAG testa struktūras automatizētā interaktīvā vidē.

Novērst troksni no diagnostikas datiem, lai noteiktu pamatcēloņus, identificētu sistemātiskus ražas ierobežotājus un atlasītu labākās ierīces kļūmju analīzei.

Visaptverošs RISC-V atkļūdošanas un izsekošanas risinājums, kas sastāv no iegultā IP un programmatūras, kas izstrādāta, lai nodrošinātu visaptverošas, efektīvas atkļūdošanas un izsekošanas iespējas.

Paātrināt sarežģītu daudzkodolu SoC atkļūdošanu, validāciju un optimizāciju. Izmantojiet iegultus, neuzbāzīgus instrumentus, lai varētu novērot, kas notiek dizainā, kad sistēmā darbojas programmatūra.

Ļaujiet lietojumprogrammu programmatūrai, kas darbojas SoC, efektīvi uzraudzīt darbības. Ļaujiet produktus secīgi pilnveidot un optimizēt, pamatojoties uz datiem, kas savākti reālajā dzīvē - ne tikai laboratorijā.

Nodrošiniet augstāko ražošanas testa kvalitāti, izmantojot Tessent risinājumus. Maksimāli palieliniet atklāto fizisko defektu skaitu nulles defektu testa risinājumā.

Samaziniet risku un ievērojiet nepieciešamos drošības standartus, izmantojot visaptverošus sistēmas testēšanas un kļūdu klasifikācijas risinājumus, nodrošinot, ka jūsu produkts pilnībā atbilst drošībai kritiskajām lietojumprogrammām, kurām tas ir paredzēts.

Ieviesiet visaptverošu drošības risinājumu savam IC produktam, risinot autentifikāciju, komunikāciju, aizsardzību un ierīces dzīves cikla pārvaldību visā testēšanas, funkcionālās darbības un sistēmas līmeņa drošībā.

Diagnosticējiet un analizējiet kļūmju un ienesīguma datus par atsevišķu klientu atgriešanām vai ražošanas apjoma datiem. Saņemiet vērtīgas atsauksmes par dizainu un procesu, lai uzlabotu turpmāko procesu un dizainu uzticamību.