Tessent Advanced DFT
Tessent TestKompress
를 사용하여 최저 제조 테스트 비용으로 최고 품질의 임베디드 결정성 스캔 테스트를 달성하십시오. Tessent TestKompress.
왜 Tessent TestKompress?
Tessent TestKompress업계 최고의 스캔 테스트 도구인 인 은 임베디드 결정론적 테스트 기술을 사용하여 스캔 패턴을 100배 이상 압축하는 동시에 최고 수준의 테스트 품질을 달성합니다.
최고 수준의 결함 커버리지
TestKompress는 정적 및 동적으로 활성화된 결함을 발견하는 데 사용되는 모든 기존 결함 모델을 지원합니다.또한 사용자 정의 결함 모델을 지원하므로 거의 모든 결함 메커니즘을 모델링하고 타겟팅할 수 있습니다.
완전 자동화
TestKompress는 포괄적인 자동화, TCL 기반 스크립팅 및 인트로스펙션 기능을 제공합니다.처리량을 극대화하기 위해 ATPG (자동 테스트 패턴 생성) 를 여러 프로세서에 분산할 수 있습니다.
테스트 시간 및 패턴 수 감소
특허받은 임베디드 결정성 테스트 (EDT) 기술을 기반으로 구축되었습니다. Tessent TestKompress 결함 커버리지의 손실 없이 테스트 시간과 패턴 볼륨을 모두 수십 배 줄입니다.
