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구리하고 초록색 배경의 대형 칩이 탑재되어 있어요
테센트 어드밴스드 DFT

테센트 메모리비스트

Tessent MemoryBIST는 임베디드 메모리의 고속 테스트, 진단, 수리, 디버그 및 특성화를 위한 완벽한 솔루션을 제공해요.유연한 계층적 아키텍처를 활용하면 내장된 자체 테스트 및 자체 복구를 개별 코어뿐만 아니라 최상위 레벨에도 통합할 수 있어요.

Tescent MemoryBist를 왜 테센트해요?

업계 최고의 메모리 내장 셀프 테스트인 Tessent MemoryBIST에는 RTL 또는 게이트 수준에서 설계 규칙 검사, 테스트 계획, 통합, 검증을 모두 제공하는 독특하고 포괄적인 자동화 흐름이 포함되어 있어요.

ECC 기반 메모리 수리

Tessent MemoryBist ECC는 신뢰성을 높이고 테스트 품질을 개선하며 노후화된 결함을 방지해요.사용자 지정 가능한 합격/불합격 기준을 통해 메모리 중복성과 오류 수정 코드를 최적으로 조합할 수 있어요.

비휘발성 메모리 애플리케이션

Tessent MemoryBist NVM은 유연한 테스트 및 수리를 제공하고, 제조 테스트 비용을 줄이고, 신뢰성을 높여줘요.자동화된 NVM 전용 알고리즘은 특수 액세스 모드를 활성화하고 ECC 옵션과 함께 작동해요.26세 초반에 가능해요.

고급 BIST 액세스 포트

고급 BAP는 시스템 내 테스트를 최적화하도록 구성 가능한 인터페이스를 제공해요.또한 메모리 BIST 컨트롤러를 구성하고, Go/NoGo 테스트를 실행하고, 합격/불합격 상태를 모니터링하는 저지연 프로토콜을 지원해요.

알고리즘 프로그래밍 가능성

메모리 테스트 알고리즘을 Tessent MemoryBist 컨트롤러에 하드코딩한 다음 런타임 제어를 통해 각 메모리에 적용할 수 있어요.이렇게 하면 제조 공정이 발전함에 따라 더 짧은 테스트 알고리즘을 선택할 수 있어요.

전력 인식 온칩 자체 수리

Tessent MemoryBist 수리 옵션을 사용하면 외부 수리 흐름과 관련된 복잡성과 비용을 없앨 수 있어요.외부 리소스를 거의 사용하지 않고 칩에 있는 결함 있는 메모리를 모두 테스트하고 영구적으로 복구해요.

Tessent MemoryBIST로 테스트 품질을 극대화하세요.

테센트 프로덕트 매니저 에티엔 라신 (Etienne Racine) 이 테센트 메모리비스트가 유연한 아키텍처로 테스트 품질을 극대화하고, 테스트 시간을 최소화하고, 수율을 높이고, 메모리를 복구하는 데 어떻게 도움이 되는지 이야기해요.

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