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자동차 기능 안전 향상
자동차 기능 안전에 대한 아날로그 결함 시뮬레이션의 역할을 자세히 알아보고 아날로그 결함 시뮬레이션이 칩 설계 및 안전 표준 준수에 미치는 과제, 응용 분야, 이점 및 영향을 살펴봅니다.
Tessent Advanced DFT
Tessent DefectSim
Tessent DefectSim 아날로그, 혼합 신호 (AMS) 및 비스캔 디지털 회로를 위한 트랜지스터 레벨 결함 시뮬레이터입니다.결함 범위와 결함 허용 오차를 측정하며 대용량 및 고신뢰성 IC 모두에 적합합니다.
왜 Tessent DefectSim?
AMS 안전성, 테스트 품질 및 시간을 개선하십시오. Tessent DefectSim AMS 회로의 수동 테스트 커버리지 평가를 대체하여 품질 및 기능 안전 표준과 테스트 커버리지 목표를 충족하는 데 필요한 개선을 안내하는 객관적인 데이터를 생성합니다.
아날로그 결함 시뮬레이션
스캔 가능한 디지털 회로를 위한 TestKompress 셀 어웨어 ATPG에서 사용되는 트랜지스터 레벨 결함 주입 기술을 기반으로 구축된 DefectSim은 수백 또는 수천 개의 트랜지스터가 포함된 산업용 회로 블록에 적합합니다.
실행 가능한 출력 분석
가능성 가중치가 적용된 결함 범위, 신뢰 구간, 각 결함을 나열하는 매트릭스, 불합격 테스트 한계 또는 디지털 출력으로 감지되었는지 여부를 나열하는 요약 정보를 생성합니다.
효율적인 시뮬레이션
병렬
CPU에서 클래식 SPICE로 프로덕션 테스트 및 플랫 추출 레이아웃 넷리스트를 시뮬레이션하는 것에 비해 총 시뮬레이션 시간을 크게 단축합니다.
우리는 평가했다 Tessent DefectSim 여러 자동차 IC를 대상으로 테스트 및 테스트용 설계 기술을 개선하고 아날로그 테스트의 결함 범위를 측정 가능하게 개선할 수 있는 고도로 자동화되고 유연한 솔루션이라는 결론을 내렸습니다.
