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자동차 기능 안전 발전
자동차 기능 안전에서 아날로그 결함 시뮬레이션의 역할을 자세히 알아보고 아날로그 결함 시뮬레이션이 칩 설계와 안전 표준 준수에 미치는 과제, 응용 분야, 이점 및 영향을 살펴보세요.
테센트 어드밴스드 DFT
테센트 디펙트심
Tessent DefectSim은 아날로그, 혼합 신호 (AMS), 논스캔 디지털 회로를 위한 트랜지스터 레벨 결함 시뮬레이터예요.결함 커버리지와 결함 허용 오차를 측정하며 대용량 및 고신뢰성 IC 모두에 적합해요.
Tescent DefectSim을 왜 테센트해요?
AMS 안전성, 테스트 품질, 시간을 개선하세요.Tessent DefectSim은 AMS 회로의 수동 테스트 커버리지 평가를 대체해 품질 및 기능 안전 표준과 테스트 커버리지 목표를 충족하는 데 필요한 개선을 안내하는 객관적인 데이터를 생성해요.
아날로그 결함 시뮬레이션
스캔 가능한 디지털 회로를 위한 TestKompress 셀 어웨어 ATPG에 사용되는 트랜지스터 수준의 결함 주입 기술을 기반으로 구축된 DefectSim은 수백 또는 수천 개의 트랜지스터가 포함된 산업용 회로 블록에 적합해요.
실행 가능한 출력 분석
가능성 가중치가 적용된 결함 범위, 신뢰 구간, 각 결함을 나열하는 매트릭스와 그것이 테스트 한계 불합격 또는 디지털 출력으로 감지되었는지 여부를 나열하는 요약을 생성하세요.
효율적인 시뮬레이션
병렬 CPU에서 클래식 SPICE로 프로덕션 테스트하고 플랫 추출 레이아웃 넷리스트를 시뮬레이션하는 것보다 총 시뮬레이션 시간을 크게 줄여 줘요.
여러 자동차 IC에서 Tessent DefectSim을 평가한 결과 테스트 및 테스트를 위한 설계 기술의 개선을 안내하고 아날로그 테스트의 결함 범위를 측정 가능하게 개선할 수 있는 고도로 자동화되고 유연한 솔루션이라는 결론을 내렸어요.
