테센트 어드밴스드 DFT

테센트 바운더리스캔

Tessent BoundaryScan은 온칩 테스트 인프라, 바운더리 스캔, 테스트 액세스 포트의 자동 생성 및 통합을 위한 완벽한 솔루션이에요.

왜 테센트 바운더리스캔이에요?

Tessent BoundaryScan 로직은 모든 패키지 수준의 제조 테스트, 실리콘 디버그, 선적 전에 결함을 감지하는 시스템 검증을 포함하여 IC 수명 내내 액세스할 수 있어 현장 지원 비용을 줄이고 고객 만족도를 높일 수 있어요.

TAP 컨트롤러와 바운더리 스캔 셀용 RTL 코드를 자동으로 생성하여 설계 RTL에 통합해요.로직 합성, 시뮬레이션 테스트벤치 및 제조 테스트용 테스트 패턴을 위한 스크립트를 생성해요.

테센트 바운더리 스캔은 IEEE 1149.1 커스텀 바운더리 스캔 셀과 비접촉식 I/O 테스트를 지원하며 1149.6 바운더리 스캔 지원 옵션이 있어요.

IJTAG 네트워크와 기기를 새로 삽입한 TAP 컨트롤러에 자동으로 연결하고 결과 인스트루먼트 연결 언어 파일을 생성해요.I/O 테스트는 절차 설명 언어 (PDL) 형식으로 생성돼요.

프레젠테이션

이 비디오는 테센트 셸에서 최상위 레벨의 테센트 바운더리 스캔 (1149.1) 과 물리적 블록 레벨에서의 테센트 임베디드 바운더리 스캔 구현 흐름을 보여줘요.

5분 안에 이 비디오는 Tessent IJTAG를 사용하여 BSDL (경계 스캔 설명 언어) 파일을 해당 ICL (기기 연결 언어) 파일로 쉽게 변환하는 방법을 보여줘요.

기술 개요

이 비디오는 ATPG 중에 바운더리 스캔을 압축 또는 비압축 체인으로 사용하는 방법을 보여 주므로 테스트 대상 장치 (DUT) 의 모든 핀에 접촉할 필요가 없어요.

학습 경로

MBIST, BoundaryScan, IJTAG, 스캔 삽입 및 TestKompress를 설계에 구현하여 여러 테센트 도구를 사용하여 높은 테스트 품질을 얻는 방법을 알아보세요.