테센트 제품들

Tessent AnalogTest는 아날로그 테스트 패턴 개발 및 검증을 엔지니어링 개월에서 엔지니어링 시간으로 단축해요.테스트 비용을 줄이면서 결함 적용 범위를 극대화하는 가장 효과적인 방법이에요.

Tessent In-System Test는 기존 로직 BIST에 비해 테스트 시간을 줄이면서 고품질 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있도록 내장 하드웨어와 필요한 소프트웨어를 제공해요.

특허받은 온칩 압축을 사용하여 테스트 데이터 양을 줄이고 테스트 시간을 단축하여 최저 제조 테스트 비용으로 최고 품질의 결정론적 스캔 테스트를 제공하세요.

IEEE 1838 호환 하드웨어의 생성 및 삽입을 자동화하고 3D 적층 집적 회로의 IEEE 테스트 액세스 아키텍처를 정의하세요.

Tessent 스트리밍 스캔 네트워크 (SSN) 로 코어 레벨과 칩 레벨 DFT 요구 사항을 분리하여 DFT 개발 시간과 제조 테스트 비용을 줄이세요.

Tessent MemoryBist로 임베디드 메모리의 테스트, 수리, 디버그 및 특성화를 포괄적으로 자동화하고 통합할 수 있어요.

자동차와 의료 애플리케이션에 사용되는 IC 같은 안전에 중요한 장치에 대한 이상적인 로직 내장 셀프 테스트 솔루션으로 ISO 26262 준수를 활성화하세요.

자동화와 온칩 IP를 결합하여 차량 작동 중 어느 시점에서든 IC 테스트와 진단을 가능하게 하세요. 이는 ISO 26262 표준의 기본 요구 사항입니다.

계층적 DFT를 위한 Tessent Platform 흐름을 최적으로 자동화하여 DFT 구현 노력을 줄여주세요.

Tessent ScanPro로 테스트 압축 레벨을 최대 4배까지 향상시키고, 계층적 DFT, 로직 BIST 준비성 및 스캔 삽입을 활성화하세요.

IC 설계팀을 위해 개발된 이 새로운 소프트웨어로 중요한 DFT 작업을 광범위하게 간소화하세요.

커버리지가 높은 소형 테스트 세트 생성 프로세스를 단순화하세요.Tessent FastScan은 거의 모든 유형의 디자인에 적용할 수 있기 때문에 현존하는 ATPG 솔루션 중 가장 다재다능해요.

다양한 소스의 IEEE 1687 IJTAG 준수 테스트 및 계측 IP를 IC 설계에 자동화하고 통합해 줘요.

규모나 복잡성에 상관없이 모든 IC에 IEEE 1149.1 표준 바운더리 스캔 지원을 자동으로 추가하여 개발 노력을 줄이고 시장 출시 시간을 단축해요.

아날로그, 혼합 신호 및 비스캔 디지털 회로의 트랜지스터 레벨 결함을 시뮬레이션하고 커버리지 평가를 자동화하여 ISO 26262와 같은 품질 표준을 충족하도록 도와줘요.

Tessent IJTAG Pro는 칩렛, 2.5/3DIC 설계에 중요하고 Tessent SSN을 통해 다른 테스트 애플리케이션에 적용할 수 있는 IJTAG 패턴 로딩/언로드를 가속화하여 테스트 비용을 크게 줄여 줘요.IJTAG를 강화해요.

레이아웃 인식과 셀 인식 진단 기술을 적용하여 제조 테스트 중에 고장을 일으키는 결함의 위치를 정확하게 분류하고 식별해요.

자동화된 대화형 환경에서 테센트 ATPG, EDT, BIST 및/또는 IJTAG 테스트 구조를 포함하는 장치의 테스트 시작, 디버그 및 실리콘 특성화를 가속화하세요.

진단 데이터에서 노이즈를 제거하여 근본적인 근본 원인을 파악하고, 체계적인 수율 제한기를 식별하고, 고장 분석에 가장 적합한 장치를 선택해요.

포괄적이고 효율적인 디버깅과 추적 기능을 제공하도록 설계된 임베디드 IP와 소프트웨어로 구성된 엔드 투 엔드 RISC-V 디버그 및 추적 솔루션이에요.

구성 가능한 IP, C++/Python API와 복잡한 SoC의 디버그, 검증, 최적화를 가속화할 수 있는 서브시스템 생성 도구로 구성된 복잡한 SoC 동작의 가시성을 위한 포괄적인 기능 모니터링 솔루션이에요.

SoC에서 실행되는 애플리케이션 소프트웨어가 작업을 효과적으로 모니터링하도록 허용하세요.실험실에서만이 아니라 실제 사용에서 수집한 데이터를 기반으로 제품을 연속적으로 개선하고 최적화할 수 있게 해주세요.

Tessent 솔루션으로 최고의 제조 테스트 품질을 보장하세요.무결점 테스트 솔루션에서 감지된 물리적 결함의 수를 최대화하세요.

포괄적인 시스템 내 테스트와 결함 등급 지정 솔루션으로 위험을 줄이고 필수 안전 표준을 충족하여 제품이 안전 핵심 응용 분야를 위해 설계된 것을 완벽하게 준수하는지 확인하세요.

테스트, 기능 운영 및 시스템 수준 보안 전반에 걸쳐 인증, 통신, 보호 및 장치 수명 주기 관리를 해결하는 포괄적인 보안 솔루션을 IC 제품에 구현하세요.

개별 고객 수익률 또는 대량 생산 데이터에 대한 고장 및 수익률 데이터를 진단하고 분석하세요.귀중한 설계와 프로세스 피드백을 받아 향후 프로세스와 설계의 신뢰성을 향상시키세요.