EUV 풀칩 커비리니어 마스크를 생성하면 공정 윈도우를 극대화할 수 있지만 마스크를 생산하는 데 사용되는 기술은 풀칩 로직 제조를 하기에는 너무 느리거든요.저희는 매우 유사한 리소그래피 측정법으로 4배에서 100배 이상 빠른 런타임을 제공하는 역 리소그래피 기술 (ILT) 만 사용하는 몇 가지 대안을 검토해요.
배우게 될 내용:
- EUV 풀칩 커비리니어 마스크 생성에 인버스 리소그래피 기술 (ILT) 이 실용적이지 않은 이유예요.
- 실행 시간이 더 빠르고 프로세스 창도 최대화하는 방법이 뭐가 있어요?
- 런타임이 4배에서 100배 이상 빠른 곡선형 출력 마스크를 만드는 방법이에요.




