Tessent Yield Learning
Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsightは、故障分析を行う前に、診断データを統計的に分析して、系統的な利回り制限要因を特定して分離します。Tessent YieldInsightは、スキャンテストデータから歩留まり損失を理解して特定することに特化しており、ボリューム診断の結果を実用的なものにしています。
なぜTessent YieldInsight ったのですか？
Tessent YieldInsightは、特殊なデータマイニングと統計分析技術を使用して、診断データからノイズを排除して、根本的な原因を特定し、体系的な収量制限要因を特定し、故障分析に最適なデバイスを選択します。
隠れた利回り制限要因を特定してください
Tessent YieldInsightは、系統的な歩留まり損失の原因を特定し、故障解析用のダイを選択するプロセスをガイダンスを提供します。
診断結果からノイズを取り除いてください
根本原因デコンボリューション（RCD）テクノロジーは、診断結果からノイズを取り除き、根本的な根本原因を特定します。失敗したダイスの集団を選択してフィルタリングし、同様の理由で失敗したダイスをグループ化します。
Tessent Diagnosis と連携します
Tessent Diagnosis のレイアウト認識およびセル認識診断結果を分析して、故障分析を行う前に系統的な収量制限要因を特定して分離します。これにより、コストのかかる物理的な位置特定が不要になります。
ウェビナー
新しいリバーシブルスキャンチェーン技術
ASMインターナショナルが主催する、Siemens EDA とクアルコムの注目のこの合同ウェビナー：
- イールドランプでチェーン診断を使用する動機
- チェーン診断の概要、リバーシブルチェーン
- リバーシブルチェーンの技術と診断
- リバーシブルチェーンの実装
- テストチップからのシリコン結果
