Tessent Advanced DFT
Tessent TestKompress
Tessent TestKompressを使用して、最低の製造テストコストで最高品質の組み込みデターミニスティックスキャンテストを実現してください。
なぜTessent TestKompress サーなの？
業界をリードするスキャンTest ツールであるTessent TestKompressは、組み込み決定論的テスト技術を使用して、スキャンパターンを多くの場合100倍以上に圧縮しながら、最高レベルのテスト品質を実現します。
最高の欠陥補償範囲
testKompressは、静的欠陥と動的に活性化された欠陥の両方を明らかにするために使用される従来の障害モデルをすべてサポートしています。ユーザー定義の障害モデルをサポートすることで、事実上すべての欠陥メカニズムをモデル化して対象を絞ることができます。
完全に自動化されています
TestKompressは、包括的な自動化、TCLベースのスクリプティング、およびイントロスペクション機能を提供します。スループットを最大化するために、自動テストパターン生成（ATPG）を複数のプロセッサに分散させることができます。
テスト時間とパターン数を減らしてください
特許取得済みの組み込み決定論テスト（EDT）テクノロジーに基づいて構築されたTessent TestKompressは、障害カバレッジを損なうことなく、テスト時間とパターン量の両方を数桁削減します。
