Tessent Advanced DFT
Tessent TestKompress
以下を使用して、製造テストコストを最小限に抑えながら、最高品質の組み込みデターミニスティックスキャンテストを実現します。 Tessent TestKompress。
なぜ Tessent TestKompress?
Tessent TestKompressは、業界をリードするスキャンテストツールで、エンベデッドデターミニスティックテストテクノロジーを使用して、スキャンパターンを多くの場合100倍以上に圧縮しながら、最高レベルのテスト品質を実現します。
最高の欠陥カバレッジ
TestKompressは、静的欠陥と動的に活性化された欠陥の両方を発見するために使用される従来の障害モデルをすべてサポートしています。また、ユーザー定義の故障モデルがサポートされているため、事実上あらゆる欠陥メカニズムをモデル化して対象を絞ることができます。
完全自動化
TestKompressは、包括的な自動化、TCLベースのスクリプティング、およびイントロスペクション機能を提供します。スループットを最大化するために、自動テストパターン生成 (ATPG) を複数のプロセッサに分散させることができます。
テスト時間とパターン数の削減
特許取得済みの組み込み決定論的テスト（EDT）テクノロジーに基づいて構築され、 Tessent TestKompress フォールトカバレッジを損なうことなく、テスト時間とパターン量の両方を数桁削減します。
