Tessentストリーミングスキャンネットワークを選ぶ理由は?
Tessentストリーミングスキャンネットワークは、真の階層型プラグアンドプレイDFTを約束します。コアレベルのDFT構成をチップレベルのDFTリソースから切り離すことで、DFTの計画と実装の労力が大幅に軽減され、同時に製造テストコストも削減されます。
市場投入期間の短縮
チップレベルのプランニングを簡素化することで、生産性が10倍向上します。コアレベルとチップレベルのDFTを切り離すことで、他のコアやチップレベルのリソースを考慮せずにコアレベルの圧縮を最適化できます。
テスト費用の削減
自動帯域幅チューニングとローカル生成のDFT信号を組み合わせることで、パターン内の空白は事実上なくなります。
電力プロファイルを最大 90% 削減します
SSNは、シフト/キャプチャクロックをずらして、よりスムーズな電力プロファイルを提供し、同時実行性も向上しています。テストする同時コアは、チップレベルのルーティングに影響を与えずに、設計時ではなくプログラムで選択できます。
SSNが市場投入までの時間を短縮する方法
従来の階層型スキャンテストアプローチには特定の課題がありますが、パケット化されたテスト配信メカニズムを使用すると大幅に改善できます。Tessent Streaming Scan Network (SSN) は、パケット化されたテスト配信を使用して、DFTの計画と実装の労力を最大5倍削減します。Tessent SSNの最新ニュースについてピート・オーランドが何を言っているか見てください。
パケットテストの未来
テストデータのパケット配信が複雑なデジタル半導体設計の業界標準になりつつある中、製品管理担当シニアディレクターのGeir Eideは、大手半導体企業がDFT実装の生産性と製造テスト時間を改善するためにTessent SSNを採用した理由を説明しています。
ユーザーはDFTの実装と生産性を最大10倍向上させ、テスト時間を最大で5倍短縮しています。
Tessent Streaming Scan Networkテクノロジーにより、現在および将来の高度なIC設計に最適な、スケーラブルなテストアクセスソリューションをお客様に提供することができます。SSNは、複雑な設計を高度にテストしやすくするために必要な労力を大幅に削減します。

