Tessent MemoryBIST

Tessent MemoryBIST ECCは信頼性を高め、テスト品質を向上させ、経年劣化による欠陥を防ぎます。カスタマイズ可能な合格/不合格基準により、メモリの冗長性とエラー修正コードの最適な組み合わせが可能になります。

Tessent MemoryBIST NVMは、柔軟なテストと修理を提供し、製造テストのコストを削減し、信頼性を高めます。NVM固有の自動アルゴリズムにより、特殊なアクセスモードが可能になり、ECCオプションと連携します。空いています。26歳前半

高度なBAPは、インシステムテストを最適化するための設定可能なインターフェイスを提供します。また、メモリBISTコントローラーの設定、Go/NoGoテストの実行、合格/不合格ステータスの監視のための低遅延プロトコルもサポートしています。

メモリテストアルゴリズムは、Tessent MemoryBIST コントローラーにハードコードし、実行時の制御によって各メモリに適用できます。これにより、製造プロセスが成熟するにつれて、より短いテストアルゴリズムを選択できます。

Tessent MemoryBIST の修復オプションを使用すると、外部の修理フローに関連する複雑さとコストがなくなります。外部リソースはほとんど使用せずに、チップ内のすべての欠陥メモリをテストし、恒久的に修復します。