Tessent In-System Test

インシステム決定論的テストでは、新しい欠陥や故障モデルが出現したり、テスト内容が変化したりしたときに、テストパターンを変更できます。

システム内のテストコントローラーはバスインターフェイスからデータを取得し、Streaming Scan Networkのバスネットワークを内部で駆動してスキャンデータパケットをテスト用のコアに適用します。これにより、テスト時間が短縮され、テスト中の電力プロファイルが向上します。

既存のオンチップ・テスト・インフラストラクチャを再利用して、インシステム・アプリケーションでIJTAGおよびSSNベースのパターンを再利用できるようにすることで、製品の耐用期間中の潜在的、断続的、ランダムまたは経年劣化に関連する欠陥を対象とします。

サイレントデータエラー/破損として現れる老朽化や環境要因への対応に必要な、完全に自動化されたハードウェアとソフトウェアの機能を提供します。Test の内容は、テスト要件の変化に応じて変更できます。