Tessent Advanced DFT

Tessent DefectSim

Tessent DefectSim は、アナログ、ミックスドシグナル（AMS）、および非スキャンデジタル回路用のトランジスタレベルの欠陥シミュレータです。欠陥カバレッジと欠陥トレランスを測定し、大容量ICと高信頼性ICの両方に最適です。

なぜ Tessent DefectSim?

AMSの安全性、試験品質、時間を改善します。 Tessent DefectSim AMS回路の手動テストカバレッジ評価に代わるもので、品質および機能安全基準とテストカバレッジ目標を達成するために必要な改善の指針となる客観的なデータを生成します。

スキャン可能なデジタル回路用のTestKompress Cell-Aware ATPGで使用されているトランジスタレベルの欠陥注入技術に基づいて構築されたDefectSimは、数百または数千のトランジスタを含む産業用回路ブロックに適しています。

発生確率加重欠陥カバレッジ、信頼区間、各欠陥と、それが不合格試験限界値によって検出されたのか、デジタル出力によって検出されたのかを示すマトリックスを生成します。

従来の SPICE で並列CPU上で量産テストやフラット抽出レイアウトネットリストをシミュレートする場合と比較して、合計シミュレーション時間を大幅に短縮できます。

評価しました Tessent DefectSim いくつかの車載ICについて検討した結果、テストおよびテスト用設計技術の改善を導き、アナログテストの欠陥カバレッジを大幅に向上させることができる、高度に自動化された柔軟なソリューションであると結論付けました。

ウィム・ドッベラーレ, テストおよび製品エンジニアリング担当ディレクター, オン・セミコンダクター

ホワイトペーパー

自動車の機能安全におけるアナログ障害シミュレーションの役割を掘り下げ、アナログ障害シミュレーションがチップ設計と安全基準への準拠に及ぼす課題、用途、利点、および影響を探ります。

Tessent DefectSim 注目されています！2017年のエレクトラ賞から、2020年国際テストカンファレンスの「効率的なアナログ欠陥シミュレーション」で最優秀論文賞を受賞しました。

Tessent DefectSim セーフティクリティカルなICに必要なISO 26262標準メトリックを測定し、システムが不当なリスクなしに動作することを保証します。