Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScanは、オンチップテストインフラストラクチャ、バウンダリスキャン、テストアクセスポートを自動生成して統合するための完全なソリューションです。

なぜTessent BoundaryScan？

Tessent BoundaryScanロジックは、すべてのパッケージレベルでの製造テスト、シリコンデバッグ、出荷前に欠陥を検出するためのシステム検証など、ICの耐用年数を通じてアクセスでき、フィールドサポートコストを削減し、顧客満足度を高めます。

TAPコントローラーとバウンダリスキャンセルのRTLコードを自動的に生成してデザインRTLに統合します。ロジック合成、シミュレーションテストベンチ、製造テスト用のテストパターン用のスクリプトを生成します。

Tessentのバウンダリスキャンは、IEEE 1149.1のカスタムバウンダリスキャンセルと非接触I/Oテストをサポートし、1149.6バウンダリスキャンをサポートするオプションがあります。

IJTAGネットワークと機器を新しく挿入したTAPコントローラーに自動的に接続し、結果の機器接続言語ファイルを生成します。I/Oテストは手続き型記述言語（PDL）形式で生成されます。

プレゼンテーション

このビデオでは、テッセント境界スキャン（1149.1）をテセントシェルのトップレベルに、テッセントエンベデッドバウンダリスキャンを物理ブロックレベルで実装するフローを紹介しています。

5分も経たないうちに、Tessent IJTAG を使ってBSDL（バウンダリ・スキャン記述言語）ファイルを同等のICL（機器接続言語）ファイルに簡単に変換する方法がビデオで紹介されています。

テクノロジーの概要

このビデオでは、ATPG中の圧縮チェーンまたは非圧縮チェーンとしてのバウンダリスキャンの使用方法を紹介しているので、被試験デバイス（DUT）のすべてのピンに接触する必要はありません。

ラーニングパス

MBIST、BoundaryScan、IJTAG、スキャン挿入、TestKompressを設計に実装して、複数のTessentツールを使用して高いテスト品質を実現する方法を学びましょう。