
アナログテスト
Tessent AnalogTestは、アナログテストパターンの開発と検証をエンジニアリングの数か月からエンジニアリング時間に短縮します。これは、テストコストを削減しながら欠陥カバレッジを最大化する最も効果的な方法です。
製品の品質を達成することは重要です。Tessentでは、高度なDFTソリューションでより明確な全体像を提供しています。イノベーションを促進する、よりスマートで高速なテストソリューションを提供します。
Tessent Streaming Scan Network (SSN) は、優れた発明に対して2022年のSiemens スイノベーターオブザイヤーを受賞しました。SSNを使用すると、チップ設計者はシリコン・テスト・アーキテクチャを簡単に実装でき、シリコン・テストの時間とテストコストを大幅に削減できます。詳しくはビデオを見てください。
Tessent Streaming Scan Network(SSN)テクノロジーは、コアレベルとチップレベルのDFT要件を切り離すことで、テスト実装の労力と製造テストのコストの間の困難で費用のかかるトレードオフを排除します。

このページから、Tessentの技術者、顧客、パートナーによるITCのプレゼンテーションにアクセスしてください。ITCは、関連するワークショップやチュートリアルに加えて、DFT、ICテスト、利回り学習、インライフモニタリングと分析の新技術を発見するのに最適な場所です。

テストにおけるAIとMLの役割は拡大し続け、多くの場合、当初の予想を上回る大幅な時間と費用の節約をもたらします。しかし、それがすべてのケースで機能するわけではなく、投資収益率が疑わしい、十分にテストされたプロセスフローを混乱させることさえあります。この半導体エンジニアリングの記事で詳細をご覧ください。

各テスト分野向けのクラス最高のソリューションに基づいて構築されたTessentのロジックおよびメモリテスト製品は、すべての機能を強力なテストフローにまとめ、チップ全体をカバーします。