セキュリティを最適化します

特許取得済みのオンチップ圧縮を使用してテストデータ量を減らし、テスト時間を短縮して、最低の製造テストコストで最高品質の確定的スキャンテストを実施してください。

コアレベルとチップレベルのDFT要件を切り離すことで、テスト容易性設計（DFT）の開発時間と製造テストのコストを削減します。

シリコンの知的財産（IP）とソフトウェアを使用して、システムオンチップ（SoC）向けのインテリジェントで機能的な監視および分析インフラストラクチャを運用します。

IEEE 1687 IJTAG準拠のテストおよび計測IPを、さまざまなソースからIC設計に自動化および統合します。

自動車や医療用途で使用されるICなどの安全性が重要なデバイス向けの理想的なロジック内蔵セルフテストソリューションでISO26262に準拠していることを確認してください。

小さなモジュールをシステムオンチップ（SoC）に直接組み込むことで、品質の確保、安全性の向上、パフォーマンスの最適化、信頼性の向上を実現し、設計で何が起こっているかを邪魔にならないように監視できます。

自動車ecosystem 内のますます多くの標準や規制が、サイバー攻撃をかわすことによる開発コストの削減をどのように約束しているかを読んでください。

AESINのまとめをして、セキュアCAVの結果についてのビデオを見てください。