品質を確保してください

特許取得済みのオンチップ圧縮を使用してテストデータ量を減らし、テスト時間を短縮して、最低の製造テストコストで最高品質の確定的スキャンテストを実施してください。

コアレベルとチップレベルのDFT要件を切り離すことで、テスト容易性設計（DFT）の開発時間と製造テストのコストを削減します。

従来のDFT方法論の品質上の制限を克服してください。車載グレードの自動テストパターン生成（ATPG）を使用して、トランジスタレベルとインターコネクトレベルでICの欠陥を特定します。

組み込みメモリのテスト、修理、デバッグ、特性評価の包括的な自動化と統合を実現します。

急成長している自動車用電子機器市場のICの要件を満たし、新しい市場や技術の需要を満たします。

アナログ、ミックスドシグナル、ノンスキャンデジタル回路のトランジスタレベルの欠陥をシミュレートします。自動補償範囲評価でISO26262などの品質基準を満たしています。

Tessentの製品マーケティング担当ディレクターであるLee Harrisonは、Electronics Weeklyのインタビューで、ストリーミングスキャンネットワーク（SSN）バスと次世代のテスト用設計技術について語っています。

自動車のサイバーセーフティとセキュリティのトレンド、そしてモビリティテクノロジーセキュリティの未来について学びましょう。Siemens EDA がecosystem 内の自動車会社にとってどのように賢い選択であるかを調べてください。

小さなモジュールをシステムオンチップ（SoC）に直接組み込むことで、品質の確保、安全性の向上、パフォーマンスの最適化、信頼性の向上を実現し、設計で何が起こっているかを邪魔にならないように監視できます。

自動車ecosystem 内のますます多くの標準や規制が、サイバー攻撃をかわすことによる開発コストの削減をどのように約束しているかを読んでください。