最適化
シリコン、パッケージ、インターポーザ、PCBの電力、性能、面積、コスト、信頼性を同時に最適化

FCBGA、FOWLP、2.5/3DICなどのさまざまな統合技術の計画とプロトタイピングからサインオフまですべてをカバーする統合ICパッケージングソリューションです。当社の 3D IC パッケージング・ソリューションは、モノリシックスケーリングの限界を克服するのに役立ちます。
半導体業界は過去40年間にASIC技術において大きな進歩を遂げ、性能の向上につながりました。しかし、ムーアの法則が限界に近づくにつれ、デバイスのスケーリングはますます難しくなっています。現在、デバイスの小型化には時間がかかり、コストも高くなり、技術、設計、分析、製造において課題が生じています。そこで、3D ICに入ります。
3D ICは、ICテクノロジーのスケーリング(別名ムーアの法則)による収益の減少によって推進される新しい設計パラダイムです。
代替案としては、システムオンチップ(SOC)を「チップレット」または「ハードIP」と呼ばれる小さなサブ機能またはコンポーネントに分割したり、複数のダイを使用してレチクルのサイズによる制限を克服したりすることが挙げられます。
メモリコンポーネントを処理ユニットに近づけ、データにアクセスする際の距離と待ち時間を短縮することで実現しました。コンポーネントを垂直に積み重ねることもできるので、コンポーネント間の物理的な距離を短くすることができます。
ヘテロジニアス・インテグレーションには、異なるプロセス・ノードとテクノロジー・ノードを混在させることができることや、2.5D/3Dアセンブリ・プラットフォームを活用できることなど、いくつかの利点があります。
当社の3D IC設計ソリューションは、建築計画/分析、物理設計計画/検証、電気および信頼性分析、製造ハンドオフまでのテスト/診断サポートをサポートします。

ヘテロジニアスシステムプランニング用のフルシステムで、柔軟なロジックオーサリングにより、プランニングから最終システムLVSまでシームレスに接続できます。フロアプラン機能により、複雑な異種設計のスケーリングがサポートされます。

設計ルーティングと配置最適化中のPPAクロージャにより、設計サイクルタイムとテープアウトまでの経路を短縮できます。階層内最適化により最上位レベルのタイミングクロージャが保証されます。最適化された設計仕様により、TSMCのアドバンストノード向けに認定されたより優れたPPAが実現します。

高度なSIP、チップレット、シリコンインターポーザー、有機基板、ガラス基板の設計を単一のプラットフォームでサポートし、高度なIP再利用手法により設計時間を短縮します。SI/PI とプロセスルールをインデザインでコンプライアンスチェックすることで、分析やサインオフを繰り返す必要がなくなります。

このソリューションは、パッケージアセンブリのネットリストを「ゴールデン」リファレンスネットリストと照合して、機能が正しいことを確認します。正式な検証機能を備えた自動化されたワークフローを採用し、半導体デバイス間のすべての相互接続を数分で確認できるため、高い精度と効率が保証されます。

トランジスタからシステムレベルまで、また初期計画からシステム承認までのスケールをカバーする熱ソリューションにより、正確なパッケージ条件と境界条件による詳細なダイレベルの熱解析が可能になります。テストチップの必要性を最小限に抑えることでコストを削減し、システムの信頼性に関する問題の特定に役立ちます。
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ECAD 固有のライブラリと設計データ管理コンポーネントの選択、ライブラリの配布、モデルの再利用により、WIPデータのセキュリティとトレーサビリティを確保します。製品ライフサイクル管理、製造調整、新部品リクエスト、資産管理のためのシームレスなPLM統合。

1687、1149.1などのIEEE標準をサポートするダイレベルおよびスタックレベルのテストを通じて複数のダイ/チップレットを処理します。パッケージ内のダイやウェーハテストの検証にフルアクセスでき、Tessent Streaming Scan Networkを使用してシームレスな統合を実現することで、2D DFTを2.5D/3Dに拡張できます。

カスタムバス機能モデル (BFM) や検証コンポーネントの開発と保守に費やす時間を削減します。 Avery Verification IP (VIP) により、システムチームとシステムオンチップ (SoC) チームは検証の生産性を大幅に向上させることができます。

独自のAI対応テクノロジーを搭載したSolido Intelligent Custom ICプラットフォームは、3D ICの課題に対処し、厳しい信号、電力、熱インテグリティの要件を満たし、開発を加速するように設計された最先端の回路検証ソリューションを提供します。

インターポーザ、およびパッケージ全体にわたる包括的なポイントツーポイント(P2P)抵抗および電流密度(CD)測定により、相互接続の信頼性とESD耐性を確保します。保護デバイス間の堅牢な相互接続により、プロセスノードとESD手法の違いを考慮してください。
チップレットは、パッケージ内の他のチップレットと接続されることを理解して設計されています。距離が近く、相互接続距離が短いほど消費電力は少なくなりますが、エネルギー効率、帯域幅、面積、遅延、ピッチなど、より多くの変数を調整する必要もあります。
シリコン、パッケージ、インターポーザ、PCBの電力、性能、面積、コスト、信頼性を同時に最適化
専門家への依存を減らすアクセシブルなテクノロジーを設計エンジニアに提供
企業全体のチーム間で異種データを管理および伝達し、デジタル継続性を維持するためのスケーラビリティ
継続的な検証を通じて下流のパフォーマンスとプロセスへの影響を早期に把握できるため、反復作業が不要になります
3D ICテクノロジーの理解:集積回路の未来を明らかにするプレスリリース
:シーメンスが新しいTessentマルチダイソリューションで2.5Dおよび3D ICのテスト用設計を自動化3DIC設計の生産性を最大限に引き出す
3D ICテクノロジーの理解
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