最適化します
シリコン、パッケージ、インターポーザー、PCB全体の電力、性能、面積、コスト、信頼性の共同最適化

FCBGA、FOWLP、2.5/3DICなどのさまざまな統合技術の計画とプロトタイピングからサインオフまですべてをカバーする統合ICパッケージングソリューションです。当社の3D ICパッケージングソリューションは、モノリシックスケーリングの限界を克服するのに役立ちます。
半導体業界は過去40年間でASIC技術において大きな進歩を遂げ、パフォーマンスの向上につながりました。しかし、ムーアの法則が限界に近づくにつれ、デバイスのスケーリングはますます難しくなっています。現在、デバイスの小型化には時間がかかり、コストも高くなり、技術、設計、分析、製造に課題が生じています。したがって、3D ICに入ります。
3D ICは、ICテクノロジースケーリング、別名ムーアの法則による収益の減少によって推進される新しい設計パラダイムです。
別のアプローチとしては、システムオンチップ(SoC)をより小さな機能的な「ブロック」に分解し、マルチダイアーキテクチャを採用してレチクルサイズの物理的な制約を克服することが挙げられます。
メモリコンポーネントを処理ユニットに近づけ、データにアクセスする際の距離と遅延を減らすことで実現しました。コンポーネントは垂直に積み重ねることもできるので、コンポーネント間の物理的な距離を短くすることができます。
異種統合には、異なるプロセスノードとテクノロジーノードを混在させることができることや、2.5D/3Dアセンブリプラットフォームを活用できることなど、いくつかの利点があります。
当社の3D IC設計ソリューションは、建築計画/分析、物理設計の計画/検証、電気および信頼性の分析、製造ハンドオフまでのテスト/診断サポートをサポートします。

異種システム計画用のフルシステム。計画から最終システムLVSまでシームレスに接続するための柔軟なロジックオーサリングを提供します。フロアプラン機能は、複雑な異種デザインのスケーリングをサポートします。

設計ルーティングが容易で、配置の最適化中にPPAが閉じられるため、設計サイクルタイムとテープアウトまでの経路が短縮されます。階層内最適化により、トップレベルのタイミングクロージングが保証されます。最適化された設計仕様はより優れたPPAを提供し、TSMCのアドバンストノードで認定されています。

単一のプラットフォームが高度なSIP、チップレット、シリコンインターポーザー、有機基板、ガラス基板設計をサポートし、高度なIP再利用方法論により設計時間を短縮します。SI/PIとプロセスルールの設計段階でのコンプライアンスチェックにより、分析や承認の繰り返しが不要になります。

このソリューションは、パッケージアセンブリのネットリストを「ゴールデン」リファレンスネットリストと照合して、機能が正しいことを確認します。正式な検証を伴う自動化されたワークフローを使用して、半導体デバイス間のすべての相互接続を数分でチェックし、高い精度と効率を保証します。

トランジスタからシステムレベル、初期計画からシステムサインオフまでのスケールをカバーする熱ソリューションで、正確なパッケージと境界条件による詳細なダイレベルの熱分析を行います。テストチップの必要性を最小限に抑えることでコストを削減し、システムの信頼性の問題を特定するのに役立ちます。
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ECAD固有のライブラリと設計データ管理。コンポーネントの選択、ライブラリの配布、モデルの再利用により、WIPデータのセキュリティとトレーサビリティを保証します。製品ライフサイクル管理、製造調整、新部品要求、資産管理のためのシームレスなPLM統合。

1838、1687、1149.1などのIEEE標準をサポートする、ダイレベルとスタックレベルのテストを通じて複数のダイ/チップレットを処理します。ダイインパッケージ、ウェーハテスト検証へのフルアクセスを提供し、Tessentストリーミングスキャンネットワークを使用してシームレスな統合を実現し、2D DFTを2.5D/3Dに拡張します。

カスタムバス機能モデル(BFM)や検証コンポーネントの開発と保守に費やす時間を省きます。Avery Verification IP(VIP)により、システムおよびシステムオンチップ(SoC)チームは検証の生産性を大幅に向上させることができます。

独自のAI対応テクノロジーpowered by Solido Intelligent Custom ICプラットフォームは、3D ICの課題に対処し、シグナル、パワー、サーマルインテグリティの厳しい要件を満たし、開発を加速するように設計された最先端の回路検証ソリューションを提供します。

ダイ、インターポーザー、パッケージ全体の包括的なポイントツーポイント(P2P)抵抗と電流密度(CD)測定により、相互接続の信頼性とESD耐性を確保します。保護デバイス間の堅牢な相互接続におけるプロセスノードとESD手法の違いを説明してください。
チップレットは、パッケージ内の他のチップレットと接続されることを理解して設計されています。近接していて相互接続距離が短いということは、エネルギー消費量が少ないということですが、エネルギー効率、帯域幅、面積、遅延、ピッチなど、より多くの変数を調整することも意味します。
シリコン、パッケージ、インターポーザー、PCB全体の電力、性能、面積、コスト、信頼性の共同最適化
専門家への依存を減らす、アクセスしやすいテクノロジーを設計エンジニアに提供します
企業全体のチーム間で異種のデータを管理および伝達し、デジタル継続性を維持するためのスケーラビリティ
継続的な検証を通じて下流のパフォーマンスとプロセスへの影響を早期に把握することで、反復作業を排除できます
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