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vista laterale del chip a bordo con sfondo blu
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Ottieni un test di scansione deterministico integrato della massima qualità con il costo di test di produzione più basso utilizzando Tessent TestKompress.

Perché Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, uno strumento di test di scansione leader del settore, utilizza la tecnologia Embedded Deterministic Test per ottenere il massimo livello di qualità del test comprimendo i pattern di scansione spesso di 100 volte o più.

Massima copertura dei difetti

TestKompress supporta tutti i modelli di guasto tradizionali utilizzati per scoprire difetti sia statici che attivati dinamicamente. Il supporto per i modelli di errore definiti dall'utente consente inoltre di modellare e individuare praticamente qualsiasi meccanismo di difetto.

Completamente automatizzato

TestKompress offre funzionalità complete di automazione, scripting basate su TCL e introspezione. Per massimizzare la produttività, la generazione automatica di modelli di test (ATPG) può essere distribuita su più processori.

Riduzione del tempo di test e del numero di modelli

Basato sulla tecnologia brevettata Embedded Deterministic Test (EDT), Tessent TestKompress riduce i tempi di test e il volume dei pattern di diversi ordini di grandezza senza alcuna perdita nella copertura dei guasti.

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