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grande chip su tavola con rame e sfondo verde
Tessent Advanced DFT

Tessent Memorybist

Tessent MemoryBist offre una soluzione completa per test rapidi, diagnosi, riparazione, debug e caratterizzazione delle memorie incorporate. Sfruttando un'architettura gerarchica flessibile, l'autotest e l'autoriparazione integrati possono essere integrati nei singoli core e al massimo livello.

Perché Tessent MemoryBist?

Tessent MemoryBist, un autotest integrato con memoria leader del settore, include un flusso di automazione unico e completo che fornisce il controllo delle regole di progettazione, la pianificazione dei test, l'integrazione e la verifica, il tutto a livello RTL o gate.

Riparazione della memoria basata su ECC

Tessent MemoryBist ECC migliora l'affidabilità, migliora la qualità dei test e protegge dai difetti dovuti all'invecchiamento. I suoi criteri pass/fail personalizzabili consentono una combinazione ottimale di ridondanza della memoria e codice di correzione degli errori.

Applicazione di memoria non volatile

Tessent MemoryBist NVM offre test e riparazioni flessibili, riduce i costi dei test di produzione e migliora l'affidabilità. Gli algoritmi automatici specifici per NVM consentono modalità di accesso specializzate e funzionano con l'opzione ECC. Disponibile. Presto il 26

Porta di accesso BIT avanzata

Il BAP avanzato fornisce un'interfaccia configurabile per ottimizzare i test all'interno del sistema. Supporta anche un protocollo a bassa latenza per configurare il controller BIST di memoria, eseguire test Go/NoGo e monitorare lo stato di pass/fail.

Programmabilità dell'algoritmo

Gli algoritmi di test della memoria possono essere codificati nel controller Tessent MemoryBist, quindi applicati a ciascuna memoria tramite il controllo in fase di esecuzione. Ciò Le consente di selezionare algoritmi di test più brevi man mano che il processo di produzione matura.

Autoriparazione su chip con riconoscimento dell'alimentazione

L'opzione di riparazione Tessent MemoryBist elimina le complessità e i costi associati ai flussi di riparazione esterni. Verifica e ripara in modo permanente tutte le memorie difettose in un chip utilizzando praticamente senza risorse esterne.

Massimizza la qualità dei test con Tessent MemoryBist

Guarda Etienne Racine, Product Manager di Tessent, parlare di come Tessent MemoryBist può aiutare a massimizzare la qualità dei test, ridurre al minimo i tempi di test, migliorare la resa e riparare le memorie grazie alla sua architettura flessibile.

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