Eventi Tessent

Scopri come i test di scansione digitale e l'ATPG possono essere applicati ai circuiti A/MS, per ottenere un'elevata copertura dei difetti e ridurre al minimo i tempi dei tester, di ordini di grandezza.

Scopri come il software integrato, in esecuzione su silicio target, può fornire un'alternativa superiore all'estrazione di più informazioni dai monitor su chip e dalle strutture di debug per l'analisi e l'ottimizzazione.

Questo webinar presenta il Tessent Streaming Scan Network (SSN), una soluzione DFT che semplifica e accelera notevolmente la pianificazione e l'implementazione del DFT attraverso l'automazione e metodi plug-&play per garantire un rapido time-to-market.

Peter Shields, Product Manager, Tessent, fornisce una visione esperta dello standard di tracciamento RISC-V e dimostra come l'implementazione dello standard aiuti a ridurre i rischi derivanti dall'adozione di RISC-V.

Non perda questo webinar, che presenta e dimostra il nuovo software Tessent Multi-die che offre un'automazione completa per le attività DFT altamente complesse associate ai più recenti progetti IC 2.5D e 3D.

Scopri come affrontare le sfide che i sistemi ADAS critici per la sicurezza introducono ai progettisti di semiconduttori nel soddisfare i requisiti di sicurezza funzionale definiti dallo standard ISO 26262.

Partecipa a questo webinar per scoprire come Tessent SiliconInsight risolve le sfide della crescita del silicio per migliorare la rampa di rendimento e il time to market.

Guarda questo webinar su richiesta dei tecnologi di Siemens e PDF Solutions per conoscere la nostra soluzione end-to-end integrata e completa che include analisi, diagnosi di scansione e apprendimento automatico.

Nuovi metodi e strumenti per SoC DFT possono semplificare i problemi introdotti dalla tecnologia, dalla progettazione e dalla scalabilità del sistema. Scopri come ridurre i rischi e migliorare il time-to-market con una soluzione DFT più prevedibile e affidabile.

Guarda questo webinar in qualsiasi momento su Affrontare efficacemente la sfida della protezione dei veicoli connessi e autonomi.

Sintonizzati per ascoltare i leader del settore discutere delle sfide tecniche nella progettazione di chip AI. Gajinder Panesar, Siemens Fellow, parla del valore dell'Embedded Analytics nell'aiutare i chip di intelligenza artificiale e ML a raggiungere il loro potenziale.

Ottimizza le prestazioni del SoC ed esegui la manutenzione predittiva sul campo. Un approccio approfondito al monitoraggio dei dati offre miglioramenti radicali in termini di tempi di guadagno, qualità dei prodotti, affidabilità, sicurezza e redditività.

Guarda questo webinar su richiesta per conoscere la tecnologia della catena di scansione reversibile e come ha migliorato la risoluzione diagnostica di 4 volte in un case study industriale.