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Panoramica

Calibre Defect Management

Le soluzioni Calibre Defect Management offrono un'analisi e una riduzione dei difetti di wafer e mask guidate dalla progettazione a flusso completo per migliorare la produttività e accelerare la rampa di rendimento. I nostri strumenti interagiscono con gli strumenti di ispezione ed eseguono una caratterizzazione accurata dei difetti, l'analisi delle cause principali e la verifica delle correzioni.


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Sfrutta diverse piattaforme dalla progettazione alla produzione

Le soluzioni Calibre Defect Management eseguono il raggruppamento dei difetti basato sulla corrispondenza dei modelli e sfruttano DRC/LVS per gli attributi di progettazione basati sulla posizione dei difetti e l'analisi della criticità della rete. La perfetta integrazione con gli strumenti di progettazione facilita il collegamento diretto tra progettazione fisica e ispezione dei difetti.

Efficiente e facile da usare

Analisi dalla sonda trasversale al progetto

La GUI di Calibre Defect Management integra varie funzionalità di analisi della progettazione di Calibre e fornisce diverse funzionalità di analisi guidata dalla progettazione basata sui difetti in modo che gli utenti possano identificare e correggere facilmente la causa principale dei difetti.

Un'immagine promozionale che mostra il raggruppamento dei difetti basato su modelli con una rappresentazione visiva dei difetti raggruppati.
Intelligente e sistematico

Scelta dall'ispezione del BFI all'analisi SEM

Calibre Defect Management fornisce applicazioni di downsampling integrandosi con le tecniche Calibre SONR, una metodologia di classificazione e previsione basata sull'apprendimento automatico, per migliorare il tasso di successo dei difetti ed evidenziare modelli sistematici con un budget di campionamento limitato per la revisione SEM.

Interfaccia software Calibre che evidenzia la gestione dei difetti con un design visivo pulito e professionale
Accurata e precisa

Analisi dei difetti basata su immagini SEM

La capacità di elaborazione delle immagini SEM di Calibre Defect Management consente un ancoraggio accurato tra la posizione del difetto sulla maschera/wafer e la posizione del difetto sul layout. Tecniche come l'allineamento da SEM a layout, l'estrazione dei contorni e la classificazione automatica dei difetti basata su SEM vengono utilizzate per garantire un'analisi accurata dei difetti.

Interfaccia software Calibre che mostra un professionista che gestisce i difetti del software sullo schermo di un computer

Risorse correlate

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Servizi di consulenza Calibre

La aiutiamo ad adottare, implementare, personalizzare e ottimizzare i suoi ambienti di progettazione complessi. L'accesso diretto alla progettazione e allo sviluppo del prodotto ci consente di attingere a una profonda esperienza in materia e dominio.

Centro assistenza

Il Siemens Support Center Le offre tutto in un'unica posizione facile da usare -
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Calibre IC Design & Manufacturing

La suite di strumenti Calibre offre una verifica e un'ottimizzazione IC accurate, efficienti e complete su tutti i nodi di processo e gli stili di progettazione, riducendo al minimo l'utilizzo delle risorse e i programmi di tapeout.