L'innovativa simulazione SPICE sensibile al contesto migliora l'analisi delle scariche elettrostatiche per progetti di grandi dimensioni
Con la crescente complessità, l'aumento del numero di transistor e la riduzione delle dimensioni dei circuiti integrati, la verifica ESD si sta rivelando una sfida significativa nei nodi avanzati. La tradizionale verifica ESD mediante estrazione parassitaria seguita dalla simulazione del programma di simulazione con enfasi sui circuiti integrati (SPICE) fatica a modellare accuratamente il comportamento dinamico dei circuiti in progetti di grandi dimensioni e a fornire risultati di simulazione in tempi di esecuzione pratici a livello di blocco di grandi dimensioni o di chip completo. La simulazione SPICE sensibile al contesto di Calibre PERC riunisce il meglio degli approcci statici e dinamici, combinando il layout fisico di un componente con la sua implementazione elettrica e analizzando tali informazioni per valutare la robustezza ESD. Questo flusso di simulazione SPICE sensibile al contesto consente ai progettisti di ottenere un'analisi ESD accurata per i progetti più grandi in qualsiasi nodo di processo.

