A Tessent MemoryBist teljes megoldást kínál a beágyazott memóriák sebességű teszteléséhez, diagnosztizálásához, javításához, hibakereséséhez és jellemzéséhez. A rugalmas hierarchikus architektúra kihasználásával a beépített önteszt és az önjavítás integrálható mind az egyes magokban, mind a legfelső szinten.
A Tessent MemoryBist, az iparágvezető memória-beépített önteszt, egyedülállóan átfogó automatizálási folyamatot tartalmaz, amely lehetővé teszi a tervezési szabályok ellenőrzését, teszttervezését, integrálását és ellenőrzését mind RTL vagy kapu szintjén.
A Tessent MemoryBist ECC növeli a megbízhatóságot, javítja a teszt minőségét és védi az öregedési hibák ellen. Testreszabható pass/hiba kritériumai lehetővé teszik a memória redundanciájának és a hibajavító kód optimális kombinációját.
A Tessent MemoryBist NVM rugalmas tesztelést és javítást biztosít, csökkenti a gyártási tesztköltségeket és növeli a megbízhatóságot. Az automatizált NVM-specifikus algoritmusok lehetővé teszik a speciális hozzáférési módokat, és működnek az ECC opcióval. Elérhető. elején 26
A fejlett BAP konfigurálható felületet biztosít a rendszerben belüli tesztelés optimalizálásához. Alacsony késleltetésű protokollt is támogat a memória BIST-vezérlő konfigurálásához, a Go/NoGo tesztek végrehajtásához és a pass/error állapot figyelemmel kíséréséhez.
A memóriateszt algoritmusok keménykódolhatók a Tessent MemoryBist vezérlőbe, majd futásidej-vezérléssel alkalmazhatók minden memóriára. Ez lehetővé teszi a rövidebb tesztelési algoritmusok kiválasztását a gyártási folyamat érésével.
A Tessent MemoryBist javítási lehetőség kiküszöböli a külső javítási folyamatokkal kapcsolatos bonyolultságokat és költségeket. Gyakorlatilag külső erőforrások nélkül teszteli és véglegesen javítja a chip összes hibás memóriáját.
Nézze meg Etienne Racine, a Tessent termékmenedzsere arról beszél, hogy a Tessent MemoryBist hogyan segíthet maximalizálni a tesztminőséget, minimalizálni a tesztidőt, javítani a hozamot és javítani a memóriákat rugalmas architektúrájával.
Ismerje meg, hogy a Tessent szoftver használatával hogyan igazodhat a feltörekvő szabványokhoz és előírásokhoz, miközben teljes körű megoldásokat kínál a mai autóipari IC-fejlesztések követelményeinek kielégítésére.
Ez a cikk leírja a megosztott buszarchitektúra használatának előnyeit az iPS magokon belüli memóriák tesztelésére és javítására, és bemutatja a Tessent MemoryBist alkalmazásban elérhető automatizálást.
Ez az esettanulmány leírja, hogy az ON Semiconductor hogyan használta a hierarchikus Tessent MemoryBist áramlást a memória BIST beillesztési idejének 6-szorosára csökkentésére.
