Biztosítsa a minőséget

Szerezd meg a legmagasabb minőségű determinisztikus szkennelési tesztet a legalacsonyabb gyártási tesztköltséggel, szabadalmaztatott chiptömörítéssel a tesztadatok mennyiségének csökkentése és a tesztidő csökkentése érdekében.

Csökkentse a tervezési tesztelhetőség (DFT) fejlesztési idejét és a gyártási tesztelési költségeket a magszintű és a chip-szintű DFT követelmények elválasztásával.

A hagyományos DFT módszerek minőségi korlátainak leküzdése. Célja meg az IC-k hibáit a tranzisztorokon és összekapcsolási szinteken az autóipari minőségű automatikus tesztminta-generálással (ATPG).

A beágyazott memóriák tesztelésének, javításának, hibakeresésének és jellemzésének átfogó automatizálásának és integrálásának elérése.

Kieljesíti az IC-k követelményeit a gyorsan növekvő autóipari elektronikai piacra, és megfeleljen az új piacok és technológiák igényeinek.

Szimulálja az analóg, vegyes jelű és nem szkennelt digitális áramkörök tranzisztorszintű hibáit. Megfeleljen az olyan minőségi előírásoknak, mint az ISO26262 automatizált lefedettségértékeléssel.

Lee Harrison, a Tessent termékmarketing igazgatója az Electronics Weekly interjújában beszél a Streaming Scan Network (SSN) buszokról és a tesztelésre tervező technológia következő generációjáról.

Ismerje meg az autóipari kiberbiztonsági és biztonsági trendeket, valamint a mobilitási technológia biztonságának jövőjét. Tudja meg, hogy a Siemens EDA miként jelent okos választást az ökoszisztémán belüli autóipari vállalatok számára.

Biztosítsa a minőséget, növelje a biztonságot, optimalizálja a teljesítményt és növelje a megbízhatóságot azáltal, hogy kis modulokat közvetlenül beágyazza a rendszer-on-chip (SoC) rendszerbe, lehetővé téve a tervezésben zajló események nem tolakodó megfigyelését.

Olvassa el, hogyan ígéri az autóipari ökoszisztémán belüli egyre több szabvány és előírás a fejlesztési költségek megtakarítását a kibertámadások elleni küzdelem révén.