Tessent események

Ismerje meg, hogyan alkalmazható a digitális szkennelési tesztek és az ATPG az A/MS áramkörökre a nagy hibakefedettség elérése és a tesztelési idő nagyságrenddel történő minimalizálása érdekében.

Fedezze fel, hogy a célszilíciumon futó beágyazott szoftverek hogyan nyújthatnak kiváló alternatívát ahhoz, hogy több betekintést nyerjenek a chipen található monitorokból és a hibakeresési struktúrákból elemzés és optimalizálás céljából.

Ez a webinárium bemutatja a Tessent Streaming Scan Network (SSN), egy DFT megoldást, amely drámai módon leegyszerűsíti és felgyorsítja a DFT tervezését és megvalósítását automatizálási és plug-&-play módszerekkel, hogy gyors időt biztosítson a piacra.

Peter Shields, a Tessent termékmenedzsere szakértői betekintést nyújt a RISC-V nyomkövetési szabványba, és bemutatja, hogy a szabvány bevezetése hogyan segít csökkenteni a RISC-V bevezetésével járó kockázatokat.

Ne hagyja ki ezt a webináriumot, amely bemutatja és bemutatja az új Tessent Multi-Die szoftvert, amely átfogó automatizálást biztosít a legújabb 2.5D és 3D IC tervekhez kapcsolódó rendkívül összetett DFT-feladatokhoz.

Ismerje meg, hogyan kell szembenézni azokat a kihívásokat, amelyeket a biztonsági szempontból kritikus ADAS rendszerek vezetnek be a félvezető tervezők számára az ISO 26262 szabvány által meghatározott funkcionális biztonsági követelmények teljesítése érdekében.

Csatlakozzon ehhez a webináriumhoz, hogy megtudja, hogyan oldja meg a Tessent SiliconInsight a szilíciumfelvétel kihívásait a jobb hozamráp és a piacra jutás ideje érdekében.

Tekintse meg ezt a Siemens és a PDF Solutions technológusainak igény szerinti webináriumot, hogy megismerje integrált, átfogó, végpontos megoldásunkat, amely magában foglalja az elemzést, a szkennelési diagnosztikát és a gépi tanulást.

A SoC DFT új módszerei és eszközei egyszerűsíthetik a technológia, a tervezés és a rendszer méretezése által felmerült problémákat. Ismerje meg, hogyan csökkentheti a kockázatot és javíthatja a piacra jutás idejét egy kiszámíthatóbb és megbízhatóbb DFT-megoldással.

Tekintse meg ezt a webináriumot bármikor a csatlakoztatott és autonóm járművek biztonságával kapcsolatos kihívások hatékony kezeléséről.

Hallgassa meg, hogy a terület vezetői megvitatják az AI chipek tervezésének technikai kihívásait. Gajinder Panesar, a Siemens munkatársa arról beszél, hogy a Beágyazott Analytics milyen értéke van abban, hogy segítse az AI és az ML chipek potenciáljának elérését.

Optimalizálja a SoC teljesítményét és végezzen prediktív karbantartást a terepen. A mélyreható adatmonitorozási megközelítés radikális javulást kínál a bevételhez való idő, a termékminőség, a megbízhatóság és a biztonság, valamint a jövedelmezőség terén.

Nézze meg ezt az igény szerinti webináriumot, hogy megismerje a reverzibilis szkennelánc-technológiát és azt, hogyan javította a diagnosztikai felbontást 4X-rel egy ipari esettanulmányban.