Tessent
all
SilikonInsight
Ubrzajte testiranje, uklanjanje pogrešaka i karakterizaciju silicija uređaja koji sadrže Tessent ATPG, EDT, BIST i/ili IJTAG testne strukture unutar automatiziranog interaktivnog okruženja.
Tessent Yield Learning
Smanjite vrijeme za prinos, upravljajte proizvodnim izletima i povratite prinos uzrokovan sustavnim nedostacima. Razumijevanjem načina upravljanja i optimizacije okruženja za testiranje i prikupljanje podataka, mogu se postaviti rješenja za učenje prinosa kako bi se identificirali sustavni nedostaci koji uzrokuju nizak prinos, štedeći vrijeme.
Smanjite složenost pomoću Tessent Yield Learning rješenja
Sa složenošću u porastu, Tessent Yield Learning dizajnira alate za smanjenje složenosti bez ugrožavanja kvalitete ili profitabilnosti. Pomažemo kupcima da se prilagode promjenjivom okruženju, a istovremeno smanjujemo vrijeme stavljanja na tržište i smanjujemo troškove.
Istražite tehnologije
Saznajte više
Bijela knjiga
all
Poboljšajte propusnost dijagnoze skeniranja glasnoće 10X
Uvođenje nove tehnike za maksimiziranje propusnosti dijagnoze. Tehnologija dinamičkog particioniranja u Tessent Diagnosis omogućuje 50% smanjenje vremena dijagnoze skeniranja koristeći samo 20% tipične memorije.
