Pristupite širokom rasponu prezentacija koje su na Međunarodnoj testnoj konferenciji (ITC) održali Siemensovi čelnici, stručnjaci tvrtke Tessent, kupci i partneri. Saznajte više o našim vodećim rješenjima u industriji za dizajn za testiranje (DFT), IC test, učenje prinosa te praćenje i analitiku u životu.
Siemens je ponosan što je dijamantski pristaš Međunarodne Test konferencije 2024. Snimke ključnih dijamantskih prezentacija možete pogledati u nastavku.
Ankur Gupta, viši potpredsjednik i generalni direktor platforme za stvaranje digitalnog dizajna u Siemens EDA otvara Diamond Event kako bi razgovarao s publikom ITC-a na temu "Transformativne tehnologije za održivu budućnost"
Anurag Jindal, voditelj DFX grupe u Ericssonu predstavlja "Brži i učinkovitiji protok koji omogućuje integrirana platforma"
Vishal Agarwal, viši direktor Nvidije razgovara s publikom ITC 2024 o izazovima testiranja u eri AI
Dan Trock, glavni inženjer Amazon Web Services, predstavlja "Deterministički test skeniranja unutar flote u AWS oblaku"
Gledanje prezentacija u kazalištu Tessent tradicija je na izložbenom katu ITC-a, gdje naši kupci i partneri predstavljaju svoja iskustva s Tessentovim tehnologijama, referentnim tokovima i projektima suradnje. U nastavku pogledajte najnovije prezentacije s ITC 2024.
Ne propustite ovu priliku da se osvrnete unatrag i učite od Tessentovih stručnjaka DFT prezentacija posljednjih godina na ITC-u.
Darshan Kobla, viši direktor Microsoftove vodeće strategije testiranja u svim segmentima proizvoda, preporučuje da napori DFT-a budu jednostavni i predvidljivi kada su dizajni složeni.
Nilanjan Mukherjee, stariji direktor inženjerstva, Tessent, Siemens EDA, objašnjava kako rana verifikacija DFT-a smanjuje vrijeme za stavljanje na tržište.
Ankur Gupta, VP/GM, Tessent, Siemens EDA, završava ITC Diamond događaj prezentacijom o tome kako Siemens EDA omogućuje pametniju budućnost brže.
Ne propustite ovu priliku da se osvrnete unatrag i učite od Tessentovih stručnjaka DFT prezentacija posljednjih godina na ITC-u.
Ankur Gupta, potpredsjednik i GM, Tessent, Siemens EDA, uvodi DFT u In-Life nadzor elektroničkih sustava na ITC 2022.
Dan Trock, glavni inženjer u Amazon Web Services, predstavlja smanjenje napora u dizajnu, vremena testiranja i snage pomoću SSN-a u AWS Custom Silicon.
Janusz Rajski, potpredsjednik za istraživanje i razvoj, Tessent, Siemens EDA, predstavlja strukturno determinističko ispitivanje u životnom ciklusu silicija.
Vidya Neerkundar, voditeljica proizvoda, Tessent, Siemens EDA uvodi napredak u DFT automatizaciji za 2.5D/3D IC eru.
Probojne prepreke prinosa uz Siemens & PDF Solutions koje su predstavili Siemens i Thomas Zanon, direktor angažmana, PDF Solutions.
Ne propustite ovu priliku da se osvrnete unatrag i učite od Tessentovih stručnjaka DFT prezentacija posljednjih godina na ITC-u.
Dave Dehnert, glavni inženjer, Intel, raspravlja o implementaciji SSN-a na velikom višestrukom SOC-u.
Wu Yang, voditelj tehničkih i livačkih programa za Tessent u Siemens EDA, predstavlja EDA perspektivu 3D IC testa, uključujući IEEE 1838 i metodologiju ispitivanja 3D steka.
Janusz Rajski, potpredsjednik za istraživanje i razvoj za Tessent u Siemens EDA, predstavlja rad na trenutnom stanju tehnologije zbijanja uzoraka.
Lee Harrison, voditelj Solutions za testiranje automobila za Tessent u Siemens EDA, istražuje pitanja sigurnosnih izazova u IC testu.
Lee Harrison, voditelj Solutions za testiranje automobila za Tessent u Siemens EDA, raspravlja o korištenju alata Silicon Lifecycle Management (SLM) za praćenje učinaka starenja na automobilsku elektroniku.
Srinu Alampally, glavni inženjer u Broadcomu, predstavlja poboljšanje testa na dizajnu od 3 GHz sa SSN-om.
Plug & Play DFT rješenja za računarstvo visokih performansi (HPC) /AI predstavljena u ime Dongkwan Hana iz tvrtke Samsung Foundry.
