Tessent Događaji

Saznajte kako se testovi digitalnog skeniranja i ATPG mogu primijeniti na A/MS sklopove, kako bi se postigla visoka pokrivenost defekata i smanjilo vrijeme ispitivanja, za redove veličine.

Otkrijte kako ugrađeni softver, koji radi na ciljnom siliciju, može pružiti vrhunsku alternativu izvlačenju više uvida iz monitora na čipu i struktura za uklanjanje pogrešaka za analitiku i optimizaciju.

Ovaj webinar predstavlja Tessent Streaming Scan Network (SSN), DFT rješenje koje dramatično pojednostavljuje i ubrzava planiranje i implementaciju DFT-a putem automatizacije i plug-&-play metoda za brzo isporuku vremena na tržište.

Peter Shields, voditelj proizvoda, Tessent, pruža stručni uvid u standard za praćenje RISC-V i pokazuje kako primjena standarda pomaže u smanjenju rizika usvajanja RISC-V.

Ne propustite ovaj webinar, predstavljajući i demonstrirajući novi Tessent Multi-Die softver koji pruža sveobuhvatnu automatizaciju za vrlo složene DFT zadatke povezane s najnovijim 2.5D i 3D IC dizajnom.

Naučite kako se suočiti s izazovima koje kritični ADAS sustavi predstavljaju dizajnerima poluvodiča u ispunjavanju funkcionalnih sigurnosnih zahtjeva definiranih standardom ISO 26262.

Pridružite se ovom webinaru kako biste saznali kako Tessent SiliconInsight rješava izazove unošenja silicija za poboljšanu rampu prinosa i vrijeme za stavljanje na tržište.

Pogledajte ovaj webinar na zahtjev tehnologa Siemensa i PDF Solutions kako biste saznali više o našem integriranom, sveobuhvatnom rješenju od kraja do kraja koje uključuje analitiku, dijagnozu skeniranja i strojno učenje.

Nove metode i alati za SoC DFT mogu pojednostaviti probleme uvedene tehnologijom, dizajnom i skaliranjem sustava. Naučite kako smanjiti rizik i poboljšati vrijeme ulaska na tržište uz predvidljivije i pouzdanije DFT rješenje.

Pogledajte ovaj webinar bilo kada o učinkovitom rješavanju izazova osiguranja povezanih i autonomnih vozila.

Uključite se kako biste čuli vođe na terenu kako razgovaraju o tehničkim izazovima u dizajniranju AI čipova. Gajinder Panesar, Siemensov suradnik, govori o vrijednosti ugrađene analitike u pomaganju AI i ML čipovima da ostvare svoj potencijal.

Optimizirajte performanse SoC-a i izvršite prediktivno održavanje na terenu. Pristup dubokom praćenju podataka nudi radikalna poboljšanja u vremenu do prihoda, kvaliteti proizvoda, pouzdanosti i sigurnosti te profitabilnosti.

Pogledajte ovaj webinar na zahtjev kako biste saznali više o tehnologiji reverzibilnog lanca skeniranja i kako je poboljšala dijagnostičku razlučivost za 4X u industrijskoj studiji slučaja.