
Calibre EUV
Sveobuhvatna podrška u rješavanju jedinstvenih izazova EUV-a s visokom RNA, poput anamorfne optike i 3D modeliranja maski kako bi se uzeli u obzir efekti sjenčanja.
Nezasitna potražnja za integriranim krugovima (IC) nastavlja pokretati manje kritične dimenzije. Procesi fotolitografije, uključujući ekstremno ultraljubičasto zračenje (EUV), predstavljaju sve veću složenost i količinu podataka. Naša računalna litografska rješenja omogućuju isplativo omogućavanje tehnologije.
litografski izazovi i računska složenost povezana s naprednim procesnim čvorovima stvaraju potrebu za naprednim mogućnostima softvera i hardvera računalne litografije. Rješenje Calibre nudi najbolju točnost, brzinu i troškove vlasništva u klasi.

Gusta optička blizina i korekcija procesa kako bi se omogućila duboka submikronska proizvodnja.
Ubacuje pomoćne značajke podrezolucije (SRAF) u dizajn.
Snažna simulacija punog čipa i litografska analiza.

GUI se koristi za pokretanje širokog spektra aplikacija i za pregled rezultata.

Izuzetno skalabilni kalibracijski motor za optičke, otporne i nagrizane modele.
Brza, inverzna korekcija optičke blizine temeljena na pikselima.
Jednostavan za korištenje GUI za optimizaciju izvora osvjetljenja.