Tessent
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Silicon Insight
Accélérer le montage des tests, le débogage et la caractérisation au silicium des dispositifs contenant des structures de test Tessent ATPG, EDT, BIST et/ou IJTAG dans un environnement interactif automatisé.
Tessent Yield Learning
Diminuez le temps de production, gérez les excursions de fabrication et récupérez le rendement causé par des défauts systématiques. En comprenant comment gérer et optimiser l'environnement de test et de collecte de données, des solutions d'apprentissage des rendements peuvent être configurées pour identifier les défauts systématiques qui causent un faible rendement, ce qui permet de gagner du temps.
Réduisez la complexité avec les solutions Tessent Yield Learning
Avec la complexité croissante, Tessent Yield Learning conçoit des outils pour réduire la complexité sans compromettre la qualité ou la rentabilité. Nous aidons les clients à s'adapter aux environnements changeants tout en réduisant les délais de mise sur le marché et les coûts.
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Livre blanc
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Améliorez le débit de diagnostic par balayage de volume 10X
Présentation d'une nouvelle technique pour maximiser le débit de diagnostic. La technologie de partitionnement dynamique de Tessent Diagnosis permet de réduire de 50 % le temps de diagnostic par balayage en utilisant seulement 20 % de la mémoire typique.
