Skip to main content
Tämä sivu näytetään automaattisella käännöksellä. Näytä sen sijaan englanniksi?
Henkilö seisoo suuren näytön edessä, jossa näkyy kaavio, jossa on punainen viiva.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldInsight

Tessent Yieldinsight analysoi tilastollisesti diagnoositiedot systemaattisten tuotonrajoittimien tunnistamiseksi ja erottamiseksi ennen vikaanalyysin tekemistä. Tessent Yieldinsight on erikoistunut skannaustestitietojen tuottonmenetyksen ymmärtämiseen ja tunnistamiseen ja tekee tilavuusdiagnoosin tuloksista toimivia.

Miksi Tessent Yieldinsight?

Tessent Yieldinsight poistaa kohinan diagnoositiedoista käyttämällä erikoistuneita tiedonlouhinta- ja tilastollisia analyysitekniikoita, jotta voidaan määrittää taustalla olevat syyt, tunnistaa systemaattiset tuotonrajoittimet ja valita parhaat laitteet vikaanalyysiin.

Tunnista piilotetut tuotonrajoittimet

Tessent Yieldinsight tunnistaa systemaattisen sadonmenetyksen syyn ja antaa ohjeita muotin valintaprosessissa vikaanalyysiä varten.

Poista melu diagnoosituloksista

Root Cause Deconvolution (RCD) -tekniikka poistaa melun diagnoosituloksista ja määrittää taustalla olevat syyt. Se valitsee ja suodattaa epäonnistuneiden kuolien populaatiot, ryhmittelemällä kuoppia, jotka epäonnistuvat samanlaisista syistä.

Toimii Tessent Diagnosisin kanssa

Analysoi Tessent Diagnosisin asettelutietoiset ja solutietoiset diagnoositulokset tunnistaakseen ja erottamaan systemaattiset tuotonrajoittimet ennen vikaanalyysin tekemistä, jolloin kalliin fyysisen lokalisoinnin tarve eliminoituu.

Webinaari

Uusi käänteinen skannausketjuteknologia

ASM Internationalin isännöimä Siemens EDA: n ja Qualcommin yhteinen webinaari korostaa:

  • Motivaatio ketjudiagnoosin käyttämiseen tuottoramppissa
  • Katsaus ketjudiagnoosiin, palautuva ketju
  • Käännettävä ketjuteknologia ja diagnoosi
  • Käännettävien ketjujen toteuttaminen
  • Piitulokset testisirusta
 Lähikuva prosessorisirusta piirilevyllä, jossa on sininen tausta.

Lue lisää