Tessent MemoryBist tarjoaa täydellisen ratkaisun upotettujen muistien nopeustestaukseen, diagnosointiin, korjaamiseen, virheenkorjaukseen ja karakterisointiin. Hyödyntämällä joustavaa hierarkkista arkkitehtuuria, sisäänrakennettu itsetesti ja itsekorjaus voidaan integroida yksittäisiin ytimiin sekä ylimmälle tasolle.
Tessent MemoryBist, alan johtava sisäänrakennettu muistin itsetesti, sisältää ainutlaatuisen kattavan automaatiovirran, joka tarjoaa suunnittelusääntöjen tarkistuksen, testin suunnittelun, integroinnin ja todentamisen RTL- tai porttitasolla.
Tessent MemoryBist ECC parantaa luotettavuutta, parantaa testien laatua ja suojaa ikääntymisvikoja vastaan. Sen muokattavat läpäisy-/hylätykriteerit mahdollistavat optimaalisen yhdistelmän muistin redundanssia ja virheenkorjauskoodia.
Tessent MemoryBist NVM tarjoaa joustavan testauksen ja korjauksen, vähentää valmistuskustannuksia ja parantaa luotettavuutta. Automaattiset NVM-spesifiset algoritmit mahdollistavat erikoistuneet käyttötilat ja toimivat ECC-vaihtoehdon kanssa. Saatavilla. 26 alussa
Kehittynyt BAP tarjoaa konfiguroitavan käyttöliittymän järjestelmän sisäisen testauksen optimoimiseksi. Se tukee myös matalan viiveen protokollaa muistin BIST-ohjaimen määrittämiseksi, Go/NoGo-testien suorittamiseksi ja läpäisy/epäonnistumisen tilan seuraamiseksi.
Muistitestialgoritmit voidaan kovakoodata Tessent MemoryBist -ohjaimeen ja soveltaa sitten jokaiseen muistiin ajoaikaohjauksen avulla. Tämän avulla voit valita lyhyemmät testialgoritmit valmistusprosessin kypsyessä.
Tessent MemoryBist -korjausvaihtoehto eliminoi ulkoisiin korjausvirtoihin liittyvät monimutkaisuudet ja kustannukset. Se testaa ja korjaa pysyvästi kaikki sirun vialliset muistit käytännössä ilman ulkoisia resursseja.
Katso, kuinka Tessentin tuotepäällikkö Etienne Racine kertoo siitä, kuinka Tessent MemoryBist voi auttaa maksimoimaan testin laadun, minimoimaan testiajan, parantamaan tuottoa ja korjaamaan muistia joustavalla arkkitehtuurillaan.
Opi, miten Tessent-ohjelmiston avulla voit mukautua nouseviin standardeihin ja määräyksiin ja tarjota samalla täydellisen kokonaisratkaisusarjan, joka vastaa nykypäivän autoteollisuuden IC-kehityksen vaatimuksiin.
Tässä artikkelissa kuvataan jaetun väyläarkkitehtuurin käytön edut muistien testaamiseen ja korjaamiseen iPS-ytimissä ja esittelee Tessent MemoryBistin käytettävissä olevan automaation.
Tässä tapaustutkimuksessa kuvataan, kuinka ON Semiconductor käytti hierarkkista Tessent MemoryBist -virtausta vähentääkseen muistin BIST-lisäysaikaa 6X.
