Tessent-tuotteet

Tessent AnalogTest vähentää analogisten testikuvioiden kehittämistä ja todentamista suunnittelukuukausista suunnittelutunneihin. Se on tehokkain tapa maksimoida vikojen kattavuus ja vähentää testikustannuksia.

Tessent In-System Test tarjoaa sulautetun laitteiston ja tarvittavan ohjelmiston, joka mahdollistaa korkealaatuisten determinististen testikuvioiden soveltamisen ja lyhentää testiaikaa verrattuna perinteiseen logiikkaan BIST.

Tarjoa korkealaatuinen deterministinen skannaustesti alhaisimmilla valmistustestikustannuksilla käyttämällä patentoitua sirupakkausta testitietojen määrän vähentämiseksi ja testiajan lyhentämiseksi.

Automatisoi IEEE 1838 -yhteensopivan laitteiston luominen ja lisääminen ja määrittele IEEE-testikäyttöarkkitehtuuri 3D-pinotetuille integroiduille piireille.

Vähennä DFT-kehitysaikaa ja valmistustestikustannuksia irrottamalla ydintason ja sirutason DFT-vaatimukset Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Mahdollistaa sulautettujen muistien testaus-, korjaus-, virheenkorjaus- ja karakterisoinnin kattava automatisointi ja integrointi Tessent MemoryBIST.

Ota ISO 26262 -standardin mukaisuus käyttöön ihanteellisella logiikalla sisäänrakennetulla itsetestausratkaisulla turvallisuuden kannalta kriittisille laitteille, kuten auto- ja lääketieteellisissä sovelluksissa käytettäville mikropiireille.

Yhdistä automaatio ja sirun sisäinen IP mahdollistavat IC-testin ja diagnoosin missä tahansa ajoneuvon toiminnallisen toiminnan vaiheessa — ISO 26262 -standardin perusvaatimus.

Vähennä DFT-käyttöönottotyötä optimaalisen automatisoinnin avulla Tessent Platform hierarkkisen DFT: n virtaus.

Paranna testipakkaustasoja jopa 4X, ota käyttöön hierarkkinen DFT, logiikan BIST-valmius ja skannauksen lisääminen Tessent ScanPro.

Virtaviivaista laajaa valikoimaa kriittisiä DFT-tehtäviä tällä uudella ohjelmistolla, joka on kehitetty IC-suunnittelutiimeille.

Yksinkertaista korkean peiton pienikokoisten testisarjojen luomista. Kyky Tessent FastScan Soveltuu useimpiin minkä tahansa tyyppisiin malleihin tekee siitä monipuolisimman saatavilla olevan ATPG-ratkaisun.

Tarjoa automaatio ja integrointi IEEE 1687 IJTAG -yhteensopivalle testi- ja instrumentointi-IP: lle eri lähteistä IC-suunnitteluun.

Automatisoi IEEE 1149.1 -standardin rajatarkastustuen lisääminen kaikenkokoisiin tai monimutkaisiin IC-liittimiin, mikä vähentää kehitystyötä ja parantaa markkinoille tuloaikaa.

Simuloi transistoritason vikoja analogisissa, sekasignaaleissa ja skannaamattomissa digitaalisissa piireissä ja automatisoi kattavuuden arviointi, joka auttaa täyttämään laatustandardit, kuten ISO 26262.

Käytä asettelutietoisia ja solutietoisia diagnoositekniikoita luokitellaksesi ja tunnistaaksesi vikoja aiheuttavien vikojen sijainnin tarkasti valmistustestien aikana.

Nopeuta Tessent ATPG-, EDT-, BIST- ja/tai IJTAG-testirakenteita sisältävien laitteiden testien käyttöönottoa, virheenkorjausta ja pii-karakterisointia automatisoidussa vuorovaikutteisessa ympäristössä.

Poista diagnoositiedoista kohinaa, jotta voit selvittää taustalla olevat syyt, tunnistaa systemaattiset tuotonrajoittimet ja valita parhaat laitteet vikaanalyysiin.

Kokonaisvaltainen RISC-V-virheenkorjaus- ja jäljitysratkaisu, joka koostuu sulautetusta IP-osoitteesta ja ohjelmistoista, jotka on suunniteltu tarjoamaan kattavat ja tehokkaat virheenkorjaus- ja jäljitysominaisuudet.

Nopeuta monimutkaisten moniytimisten SoC-laitteiden virheenkorjausta, validointia ja optimointia. Hyödynnä sulautettua, häiritsemätöntä instrumentointia, jotta voit tarkkailla, mitä suunnittelussa tapahtuu, kun ohjelmisto on käynnissä järjestelmässä.

alli SoC: llä toimivien sovellusohjelmistojen seurata toimintaa tehokkaasti. Anna tuotteiden jalostaa ja optimoida peräkkäin tosielämässä kerättyjen tietojen perusteella — ei vain laboratoriossa.

Varmista korkein valmistustestauslaatu Tessent-ratkaisuilla. Maksimoi havaittujen fyysisten vikojen määrä nollatestiratkaisussasi.

Vähennä riskejä ja täytä vaaditut turvallisuusstandardit kattavilla järjestelmän sisäisillä testaus- ja vianluokitusratkaisuilla, jotka varmistavat, että tuotteesi on täysin yhteensopiva niiden turvallisuuskriittisten sovellusten osalta, joihin se on suunniteltu.

Ota käyttöön kokonaisvaltainen tietoturvaratkaisu IC-tuotteellesi, joka käsittelee todennusta, viestintää, suojausta ja laitteen elinkaaren hallintaa testin, toiminnallisen toiminnan ja järjestelmätason tietoturvan kautta.

Diagnoosi ja analysoi yksittäisten asiakkaiden palautusten tai volyymituotantotietojen vika- ja tuottotiedot. Saat arvokasta suunnittelu- ja prosessipalautetta tulevien prosessien ja mallien luotettavuuden parantamiseksi.