EUV-täyssirun kaarevien naamioiden luominen tarjoaa maksimaalisen prosessiikkunan, mutta näiden naamioiden tuottamiseen käytetty tekniikka on liian hidas täyden sirun logiikan valmistukseen. Tarkastelemme useita vaihtoehtoisia lähestymistapoja vain käänteisen litografiatekniikan (ILT) käyttämiseen, jotka tarjoavat 4x - yli 100 kertaa nopeamman käyttöajan hyvin samanlaisilla litografisilla mittareilla.
Mitä opit:
- Miksi käänteinen litografiatekniikka (ILT) ei ole käytännöllistä EUV: n täyssirun kaarevan maskin luomisessa.
- Mitä vaihtoehtoisia lähestymistapoja on olemassa nopeammalla ajonajalla, jotka saavuttavat myös maksimaalisen prosessiikkunan.
- Kuinka tuottaa kaarevia tulostusnaamioita, joiden käyttöaika on 4x ja yli 100 kertaa nopeampi.




