Skip to main content
Tämä sivu näytetään automaattisella käännöksellä. Näytä sen sijaan englanniksi?

Yleiskatsaus

Calibre EUV

EUV: n pieni aallonpituus mahdollistaa jatkuvan etenemisen pienempiin teknologiasolmuihin. Calibre EUV tarjoaa täydellisen suunnittelun koko valmistusvirran EUV-sovelluksille ja ottaa huomioon kaikki mallinnetut EUV-vaikutukset Calibre-alustalla erilaisissa työkaluissa nopeaa ja tarkkaa käsittelyä varten.

Piikiekot muovisessa pidikkeessä
Tekninen paperi

EUV-täyssiruvaihtoehdot logiikan kautta ja metallikuviointiin

EUV-täyssirun kaarevien naamioiden luominen tarjoaa maksimaalisen prosessiikkunan, mutta näiden naamioiden tuottamiseen käytetty tekniikka on liian hidas täyden sirun logiikan valmistukseen. Tarkastelemme useita vaihtoehtoisia lähestymistapoja vain käänteisen litografiatekniikan (ILT) käyttämiseen, jotka tarjoavat 4x - yli 100 kertaa nopeamman käyttöajan hyvin samanlaisilla litografisilla mittareilla.

Mitä opit:

  • Miksi käänteinen litografiatekniikka (ILT) ei ole käytännöllistä EUV: n täyssirun kaarevan maskin luomisessa.
  • Mitä vaihtoehtoisia lähestymistapoja on olemassa nopeammalla ajonajalla, jotka saavuttavat myös maksimaalisen prosessiikkunan.
  • Kuinka tuottaa kaarevia tulostusnaamioita, joiden käyttöaika on 4x ja yli 100 kertaa nopeampi.
Doctor in white coat examining patient's throat with tongue depressor
Keskeiset ominaisuudet

Korkean NA: n EUV-ominaisuudet seuraavan solmun tarkkuuden saavuttamiseksi

Caliber EUV OPC -mallinnus ja monikuviointi tarjoavat kattavaa tukea korkean NA:n EUV:n ainutlaatuisiin haasteisiin, kuten anamorfiseen optiikkaan (lähteen optimointiin, mallintamiseen, suurennukseen, MRC:hen ja kenttäompeluun) ja 3D-mallinnuksen peittämiseen korkean NA:n EUV:n varjostusvaikutusten huomioon ottamiseksi.

Tutustu resursseihin ja niihin liittyviin tuotteisiin

Calibre EUV: n usein kysytyt kysymykset