
Calibre EUV
Kattava tuki korkean NA:n EUV: n ainutlaatuisiin haasteisiin, kuten anamorfiseen optiikkaan ja maskin 3D-mallinnukseen varjostusvaikutusten huomioon ottamiseksi.
Integroitujen piirien (IC) tyydyttämätön kysyntä johtaa edelleen pienempiin kriittisiin ulottuvuuksiin. Fotolitografiaprosessit, mukaan lukien äärimmäinen ultravioletti (EUV), aiheuttavat yhä monimutkaisempaa ja datamäärää. Laskennalliset litografiaratkaisumme mahdollistavat kustannustehokkaan teknologian käyttöönoton.
Sekä litografiset haasteet että edistyneisiin prosessisolmuihin liittyvä laskennallinen monimutkaisuus luovat tarpeen edistyneille ominaisuuksille laskennallisissa litografiaohjelmistoissa ja -laitteistoissa. Calibre-ratkaisu tarjoaa luokkansa parhaan tarkkuuden, nopeuden ja omistuskustannusten.

Tiheä optinen läheisyys ja prosessikorjaus syvän submikronin valmistuksen mahdollistamiseksi.
Lisää aliresoluution avustusominaisuudet (SRAF) malliin.
Tehokas täyssirun simulointi ja litografinen analyysi.

Käyttöliittymää käytettiin monenlaisten sovellusten käynnistämiseen ja tulosten katseluun.

Erittäin skaalautuva kalibrointimoottori optisiin, vastus- ja etch-malleihin.
Nopea, käänteinen pikselipohjainen optinen läheisyyskorjaus.
Helppokäyttöinen käyttöliittymä valaistuslähteen optimointiin.