Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight analiza estadísticamente los datos de diagnóstico para identificar y separar los limitadores de rendimiento sistemáticos antes de realizar cualquier análisis de falla. Tessent YieldInsight está especializado en comprender e identificar la pérdida de rendimiento a partir de los datos de pruebas de escaneo y hace que los resultados del diagnóstico de volumen sean procesables.
¿Por qué Tessent YieldInsight?
Utilizando técnicas especializadas de minería de datos y análisis estadístico, Tessent YieldInsight elimina el ruido de los datos de diagnóstico para determinar las causas subyacentes, identificar limitadores de rendimiento sistemáticos y seleccionar los mejores dispositivos para el análisis de fallas.
Identificar limitadores de rendimiento ocultos
Tessent YieldInsight identifica la causa de la pérdida sistemática de rendimiento y proporciona orientación a través del proceso de selección de la matriz para el análisis de fallas.
Elimine el ruido de los resultados del diagnóstico
La tecnología de deconvolución de causa raíz (RCD) elimina el ruido de los resultados del diagnóstico y determina las causas raíz subyacentes. Selecciona y filtra poblaciones de muertos fallidos, grupos de muertos que están fallando por razones similares.
Trabaja con Tessent Diagnosis
Analiza los resultados del diagnóstico consciente del diseño y de las células de Tessent Diagnosis para identificar y separar los limitadores de rendimiento sistemáticos antes de realizar cualquier análisis de falla, eliminando la necesidad de una localización física costosa.
Una novedosa tecnología de cadena de escaneo reversible
Organizado por ASM International, este seminario web conjunto entre Siemens EDA y Qualcomm destaca:
- Motivación para usar el diagnóstico de cadena en la rampa de rendimiento
- Descripción general del diagnóstico de cadena, cadena reversible
- Tecnología y diagnóstico de cadena reversible
- Implementación de cadenas reversibles
- Resultados de silicio del chip de prueba
