Tessent
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SiliconInsight
Acelere la obtención de pruebas, la depuración y la caracterización del silicio de dispositivos que contienen estructuras de prueba Tessent ATPG, EDT, BIST y/o IJTAG dentro de un entorno interactivo automatizado.
Tessent Yield Learning
Disminuya el tiempo de producción, gestione las excursiones de fabricación y recupere el rendimiento causado por defectos sistemáticos. Al comprender cómo administrar y optimizar el entorno de pruebas y recopilación de datos, se pueden configurar soluciones de aprendizaje de rendimiento para identificar defectos sistemáticos que causan un bajo rendimiento, lo que ahorra tiempo.
Reduzca la complejidad con las soluciones de Tessent Yield Learning
Con la complejidad en aumento, Tessent Yield Learning está diseñando herramientas para reducir la complejidad sin comprometer la calidad o la rentabilidad. Estamos ayudando a los clientes a adaptarse a los entornos cambiantes, a la vez que disminuimos el tiempo de comercialización y reducimos los costos.
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Informe técnico
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Mejore el rendimiento de diagnóstico de escaneo de volumen 10X
Presentamos una nueva técnica para maximizar el rendimiento del diagnóstico. La tecnología de partición dinámica en Tessent Diagnosis permite una reducción del 50% en el tiempo de diagnóstico de escaneo utilizando solo el 20% de la memoria típica.
