
Calibre EUV
Soporte integral que aborda los desafíos únicos de los EUV de alto NA, como la óptica anamórfica y el modelado 3D de máscaras para tener en cuenta los efectos de sombreado.
La demanda insaciable de circuitos integrados (IC) continúa impulsando dimensiones críticas más pequeñas. Los procesos de fotolitografía, incluido el ultravioleta extremo (EUV), presentan cada vez más complejidad y volumen de datos. Nuestras soluciones de litografía computacional permiten habilitar tecnología rentable.
Tanto los desafíos litográficos como la complejidad computacional asociada con los nodos de procesos avanzados crean la necesidad de capacidades avanzadas en software y hardware de litografía computacional. La solución Calibre ofrece la mejor precisión, velocidad y costo de propiedad de su clase.

Proximidad óptica densa y corrección del proceso para permitir una fabricación submicra profunda.
Inserta funciones de asistencia de subresolución (SRAFs) en un diseño.
Potente simulación de chip completo y análisis litográfico.

GUI utilizada para lanzar una amplia variedad de aplicaciones y para ver resultados.

Motor de calibración altamente escalable para modelos ópticos, resistentes y grabados.
de proximidad óptica rápida basada en píxeles inversos.
GUI fácil de usar para la optimización de la fuente de iluminación.