A medida que los diseños de chips se hacen cada vez más grandes y más complejos, las metodologías tradicionales de depuración de la DRC tienen dificultades para mantenerse al día. Los enfoques estándar, que dependen de las bases de datos de resultados ASCII, a menudo no pueden manejar de manera eficiente los volúmenes masivos de errores producidos en los diseños de SoC avanzados de nodos o etapas tempranas. Esto conduce a una carga lenta, diagnóstico incompleto y plazos de depuración extendidos, ya que los ingenieros deben examinar manualmente conjuntos de errores imprácticamente grandes, careciendo de la orientación y visibilidad necesarias para identificar rápidamente las causas raíz más críticas.
El software Calibre Vision AI de Siemens EDA ofrece una solución transformadora para la depuración DRC moderna a nivel de chip. Al aprovechar el formato de resultados OASIS altamente eficiente y el análisis avanzado de señales impulsado por IA, Calibre Vision AI permite a los equipos cargar y analizar miles de millones de violaciones de DRC en segundos, agrupar de manera inteligente los errores relacionados y priorizar intuitivamente los esfuerzos de depuración. Las herramientas mejoradas de visualización, navegación y colaboración ayudan a los diseñadores a identificar y resolver con precisión las infracciones en todo el chip, acelerando drásticamente los ciclos de verificación física incluso para los diseños más complejos.
