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vista lateral del chip a bordo con fondo azul
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Logre una prueba de escaneo determinista integrada de la más alta calidad con el menor coste de fabricación con Tessent TestKompress.

¿Por qué Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, una herramienta de pruebas de escaneo líder del sector, utiliza la tecnología Embedded Deterministic Test para lograr el más alto nivel de calidad de las pruebas y, al mismo tiempo, comprime los patrones de escaneo, a menudo 100 veces o más.

La máxima cobertura de defectos

TestKompress es compatible con todos los modelos de fallos tradicionales utilizados para descubrir defectos activados tanto de forma estática como dinámica. El soporte para modelos de fallos definidos por el usuario también permite modelar y atacar prácticamente cualquier mecanismo de defecto.

Totalmente automatizado

TestKompress ofrece amplias capacidades de automatización, escritura de guiones basada en TCL e introspección. Para maximizar el rendimiento, la generación automática de patrones de prueba (ATPG) se puede distribuir entre varios procesadores.

Reducir el tiempo de las pruebas y el recuento de patrones

Basado en la tecnología patentada Embedded Deterministic Test (EDT), Tessent TestKompress reduce el tiempo de prueba y el volumen del patrón en varios órdenes de magnitud sin perder la cobertura de los fallos.

Pregúntele a un experto: un hombre y una mujer tienen una consulta en una oficina.

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