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vista lateral del chip a bordo con fondo azul
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Logre una prueba de escaneo determinista integrada de la más alta calidad con el menor costo de prueba de fabricación utilizando Tessent TestKompress.

Por qué Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, una herramienta de pruebas de escaneo líder del sector, utiliza la tecnología de pruebas determinísticas integradas para lograr el nivel más alto de calidad de las pruebas y, al mismo tiempo, comprimir los patrones de escaneo, a menudo 100 veces o más.

La mayor cobertura de defectos

TestKompress es compatible con todos los modelos de fallos tradicionales utilizados para descubrir defectos activados tanto estáticos como dinámicamente. La compatibilidad con modelos de fallos definidos por el usuario también permite modelar y detectar prácticamente cualquier mecanismo de defecto.

Totalmente automatizado

TestKompress ofrece capacidades integrales de automatización, creación de scripts e introspección basadas en TCL. Para maximizar el rendimiento, la generación automática de patrones de prueba (ATPG) se puede distribuir entre varios procesadores.

Menor tiempo de prueba y recuento de patrones

Basado en la tecnología patentada de prueba determinística integrada (EDT), Tessent TestKompress reduce el tiempo de prueba y el volumen de los patrones en varios órdenes de magnitud sin perder la cobertura de fallos.

Pregúntele a un experto: hombre y mujer que tienen una consulta en una oficina.

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