Eventos Tessent

Descubra cómo se pueden aplicar las pruebas de escaneo digital y el ATPG a los circuitos A/MS para lograr una alta cobertura de los defectos y minimizar el tiempo del comprobador, en órdenes de magnitud.

Descubra cómo el software integrado, que se ejecuta en el silicio objetivo, puede ofrecer una alternativa superior a la extracción de más información de los monitores del chip y las estructuras de depuración para su análisis y optimización.

Este seminario web presenta la Tessent Streaming Scan Network (SSN), una solución de DFT que simplifica y acelera drásticamente la planificación e implementación de la DFT mediante métodos de automatización y conexión y uso para llegar rápidamente al mercado.

Peter Shields, director de producto de Tessent, ofrece una visión experta sobre el estándar de trazabilidad RISC-V y demuestra cómo la implementación del estándar ayuda a reducir los riesgos de adoptar el RISC-V.

No se pierda este seminario web, en el que se presenta y demuestra el nuevo software Tessent Multi-DIE, que ofrece una automatización integral de las complejas tareas de DFT asociadas a los últimos diseños de circuitos integrados en 2,5D y 3D.

Aprenda a estar a la altura de los desafíos que los sistemas ADAS, críticos para la seguridad, presentan a los diseñadores de semiconductores a la hora de cumplir con los requisitos de seguridad funcional definidos en la norma ISO 26262.

Únase a este seminario web para saber cómo Tessent SiliconInsight resuelve los desafíos de la comercialización del silicio para mejorar el rendimiento y el tiempo de comercialización.

Vea este seminario web bajo demanda de tecnólogos de Siemens y PDF Solutions para obtener más información sobre nuestra solución integral e integrada que incluye análisis, diagnóstico por escaneo y aprendizaje automático.

Los nuevos métodos y herramientas para la DFT del SoC pueden simplificar los problemas que introducen la tecnología, el diseño y el escalado del sistema. Aprenda a reducir el riesgo y mejorar el tiempo de comercialización con una solución de DFT más predecible y fiable.

Vea este seminario web en cualquier momento sobre cómo abordar de forma eficaz el desafío de proteger los vehículos conectados y autónomos.

Sintonice para escuchar a los líderes sobre el terreno hablar sobre los desafíos técnicos en el diseño de chips de IA. Gajinder Panesar, becario de Siemens, habla sobre el valor de la analítica integrada para ayudar a los chips de IA y aprendizaje automático a alcanzar su potencial.

Optimice el rendimiento del SoC y realice un mantenimiento predictivo sobre el terreno. Un enfoque de monitorización profunda de los datos ofrece mejoras radicales en cuanto al tiempo de obtención de ingresos, la calidad, la fiabilidad y la seguridad de los productos y la rentabilidad.

Vea este seminario web bajo demanda para obtener información sobre la tecnología de cadenas de escaneado reversibles y cómo mejoró 4 veces la resolución del diagnóstico en un caso práctico industrial.