
Calibre EUV
Soporte integral para abordar los desafíos únicos de la EUV con alto contenido de ADN, como la óptica anamórfica y el modelado 3D de máscaras para tener en cuenta los efectos de sombra.
La insaciable demanda de circuitos integrados (CI) sigue impulsando dimensiones críticas más pequeñas. Los procesos de fotolitografía, incluido el ultravioleta extremo (EUV), presentan cada vez más complejidad y volumen de datos. Nuestras soluciones de litografía computacional permiten una habilitación tecnológica rentable.
Tanto los desafíos litográficos como la complejidad computacional asociada a los nodos de proceso avanzados crean la necesidad de capacidades avanzadas en software y hardware de litografía computacional. La solución Calibre ofrece la mejor precisión, velocidad y coste de propiedad de su clase.

Proximidad óptica densa y corrección del proceso para permitir la fabricación submicrométrica profunda.
Inserta funciones de asistencia de subresolución (SRAF) en un diseño.
Potente simulación completa y análisis litográfico.

La interfaz gráfica de usuario utilizada para lanzar una amplia variedad de aplicaciones y ver los resultados.

Motor de calibración altamente escalable para modelos ópticos, resistentes y de grabado.
Corrección de proximidad óptica rápida basada en píxeles inversos.
Interfaz gráfica fácil de usar para optimizar la fuente de iluminación.