A medida que los diseños de chips crecen y se hacen más complejos, las metodologías tradicionales de depuración de la RDC tienen dificultades para mantenerse al día. Los enfoques estándar, que se basan en bases de datos de resultados ASCII, a menudo no pueden gestionar de forma eficaz los enormes volúmenes de errores que se producen en los diseños de nodos avanzados o de SoC en fase inicial. Esto provoca una carga lenta, un diagnóstico incompleto y plazos de depuración ampliados, ya que los ingenieros deben analizar manualmente los conjuntos de errores grandes y poco prácticos, ya que carecen de la orientación y la visibilidad necesarias para identificar rápidamente las causas principales más importantes.
El software Calibre Vision AI de Siemens EDA ofrece una solución transformadora para la depuración moderna de la RDC a nivel de chip. Al aprovechar el eficiente formato de resultados de OASIS y el análisis avanzado de señales basado en la IA, Calibre Vision AI permite a los equipos cargar y analizar miles de millones de infracciones de la RDC en segundos, agrupar de forma inteligente los errores relacionados y priorizar de forma intuitiva las iniciativas de depuración. Las herramientas mejoradas de visualización, navegación y colaboración ayudan a los diseñadores a identificar y resolver con precisión las infracciones en todo el chip, lo que acelera drásticamente los ciclos de verificación física incluso en los diseños más complejos.
