Tessent DefectSim είναι ένας προσομοιωτής ελαττωμάτων σε επίπεδο τρανζίστορ για αναλογικά, μικτά σήματα (AMS) και ψηφιακά κυκλώματα χωρίς σάρωση. Μετρά την κάλυψη ελαττωμάτων και την ανοχή ελαττωμάτων και είναι ιδανικό τόσο για IC μεγάλου όγκου όσο και για υψηλής αξιοπιστίας.
Βελτιώστε την ασφάλεια AMS, την ποιότητα δοκιμής και το χρόνο. Tessent DefectSim αντικαθιστά τη χειροκίνητη αξιολόγηση κάλυψης δοκιμών στα κυκλώματα AMS, δημιουργώντας αντικειμενικά δεδομένα για την καθοδήγηση των βελτιώσεων που απαιτούνται για την εκπλήρωση των προτύπων ποιότητας και λειτουργικής ασφάλειας και των στόχων κάλυψης δοκιμών.
Χτισμένο στις τεχνικές έγχυσης ελαττωμάτων σε επίπεδο τρανζίστορ που χρησιμοποιούνται στο TestKompress Cell-Aware ATPG για σαρώσιμα ψηφιακά κυκλώματα, το DefectSIM είναι κατάλληλο για μπλοκ βιομηχανικών κυκλωμάτων που περιέχουν εκατοντάδες ή χιλιάδες τρανζίστορ.
Δημιουργήστε μια εκτελεστική περίληψη που απαριθμεί την κάλυψη ελαττωμάτων με στάθμιση πιθανότητας, διάστημα εμπιστοσύνης και έναν πίνακα που απαριθμεί κάθε ελάττωμα και εάν εντοπίστηκε από ένα όριο δοκιμής αποτυχίας ή μια ψηφιακή έξοδο.
Μειώστε δραματικά τον συνολικό χρόνο προσομοίωσης σε σύγκριση με την προσομοίωση δοκιμών παραγωγής και των netlists επίπεδης εξαγωγής στο κλασικό SPICE σε παράλληλες CPU.
Αξιολογήσαμε Tessent DefectSim σε πολλά IC αυτοκινήτων και κατέληξε στο συμπέρασμα ότι είναι μια εξαιρετικά αυτοματοποιημένη και ευέλικτη λύση που καθοδηγεί τις βελτιώσεις στις τεχνικές δοκιμών και σχεδιασμού για δοκιμή και μας επιτρέπει να βελτιώσουμε μετρητά την κάλυψη ελαττωμάτων των αναλογικών δοκιμών.
ερευνήστε το ρόλο της αναλογικής προσομοίωσης σφαλμάτων της λειτουργικής ασφάλειας αυτοκινήτων και διερευνήστε τις προκλήσεις, τις εφαρμογές, τα οφέλη και τον αντίκτυπο της αναλογικής προσομοίωσης σφαλμάτων στο σχεδιασμό τσιπ και τη συμμόρφωση με τα πρότυπα ασφαλείας.
