Λύσεις δοκιμής Tessent

Tessent AnalogTest μειώνει την ανάπτυξη και την επαλήθευση αναλογικών δοκιμών από μήνες μηχανικής σε ώρες μηχανικής. Είναι ο πιο αποτελεσματικός τρόπος για τη μεγιστοποίηση της κάλυψης ελαττωμάτων μειώνοντας παράλληλα το κόστος δοκιμής.

Tessent In-System Test παρέχει το ενσωματωμένο υλικό και το απαραίτητο λογισμικό για να επιτρέψει την εφαρμογή υψηλής ποιότητας ντετερμινιστικών προτύπων δοκιμών μειώνοντας παράλληλα τον χρόνο δοκιμής σε σύγκριση με την παραδοσιακή λογική BIST.

Παρέχετε τη δοκιμή ντετερμινιστικής σάρωσης υψηλότερης ποιότητας με το χαμηλότερο κόστος δοκιμής κατασκευής, χρησιμοποιώντας πατενταρισμένη συμπίεση επί του τσιπ για μείωση του όγκου δεδομένων δοκιμής και μείωση του χρόνου δοκιμής.

Αυτοματοποιήστε τη δημιουργία και την εισαγωγή υλικού συμβατού με το IEEE 1838 και ορίστε την αρχιτεκτονική δοκιμαστικής πρόσβασης IEEE για τρισδιάστατα στοιβαγμένα ολοκληρωμένα κυκλώματα.

Μειώστε το χρόνο ανάπτυξης DFT και το κόστος δοκιμής κατασκευής αποσυνδέοντας τις απαιτήσεις DFT σε επίπεδο πυρήνα και σε επίπεδο τσιπ με Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Ενεργοποιήστε ολοκληρωμένη αυτοματοποίηση και ενσωμάτωση δοκιμών, επιδιόρθωσης, εντοπισμού σφαλμάτων και χαρακτηρισμού ενσωματωμένων αναμνήσεων με Tessent MemoryBIST.

Ενεργοποιήστε τη συμμόρφωση με το ISO 26262 με την ιδανική λογική ενσωματωμένη λύση αυτοελέγχου για συσκευές κρίσιμης σημασίας για την ασφάλεια, όπως τα IC που χρησιμοποιούνται σε εφαρμογές αυτοκινήτων και ιατρικών εφαρμογών.

Συνδυάστε τον αυτοματισμό και το IP επί του τσιπ για να επιτρέψετε τη δοκιμή και τη διάγνωση ολοκληρωμένου κυκλώματος σε οποιοδήποτε σημείο κατά τη διάρκεια της λειτουργικής λειτουργίας ενός οχήματος - βασική απαίτηση του προτύπου ISO 26262.

Μειώστε την προσπάθεια υλοποίησης DFT με τη βέλτιστη αυτοματοποίηση του Tessent Platform ροή για ιεραρχική DFT.

Βελτιώστε τα επίπεδα συμπίεσης δοκιμής έως και 4X, ενεργοποιήστε την ιεραρχική DFT, τη λογική ετοιμότητα BIST και την εισαγωγή σάρωσης με Tessent ScanPro.

Βελτιώστε ένα ευρύ φάσμα κρίσιμων εργασιών DFT με αυτό το νέο λογισμικό που αναπτύχθηκε για ομάδες σχεδιασμού ολοκληρωμένων κυκλωμάτων.

Απλοποιήστε τη διαδικασία δημιουργίας συμπαγών σετ δοκιμών υψηλής κάλυψης. Η ικανότητα του Tessent FastScan που εφαρμόζεται σε σχεδόν οποιοδήποτε τύπο σχεδιασμού το καθιστά την πιο ευέλικτη διαθέσιμη λύση ATPG.

Παρέχετε αυτοματοποίηση και ενσωμάτωση για IP δοκιμών και οργάνων συμβατά με το IEEE 1687 IJTAG από διάφορες πηγές σε ένα σχέδιο ολοκληρωμένου κυκλώματος.

Αυτοματοποιήστε την προσθήκη της πρότυπης υποστήριξης σάρωσης ορίων IEEE 1149.1 σε IC οποιουδήποτε μεγέθους ή πολυπλοκότητας, μειώνοντας την προσπάθεια ανάπτυξης και βελτιώνοντας τον χρόνο διάθεσης στην αγορά.

Προσομοίωση ελαττωμάτων σε επίπεδο τρανζίστορ για ψηφιακά κυκλώματα αναλογικού, μικτού σήματος και μη σάρωσης, αυτοματοποιώντας την αξιολόγηση κάλυψης για την τήρηση προτύπων ποιότητας όπως το ISO 26262.