Καθώς τα σχέδια τσιπ γίνονται όλο και πιο περίπλοκα, οι παραδοσιακές μεθοδολογίες εντοπισμού σφαλμάτων DRC δυσκολεύονται να συμβαδίσουν. Οι τυπικές προσεγγίσεις, που βασίζονται σε βάσεις δεδομένων αποτελεσμάτων ASCII, συχνά δεν μπορούν να χειριστούν αποτελεσματικά τους τεράστιους όγκους σφαλμάτων που παράγονται σε προηγμένα σχέδια κόμβων ή SoC πρώιμου σταδίου. Αυτό οδηγεί σε αργή φόρτωση, ελλιπή διάγνωση και εκτεταμένα χρονοδιαγράμματα εντοπισμού σφαλμάτων, καθώς οι μηχανικοί πρέπει να εξετάσουν χειροκίνητα μη πρακτικά μεγάλα σύνολα σφαλμάτων, χωρίς την καθοδήγηση και την ορατότητα που απαιτούνται για τον γρήγορο εντοπισμό των πιο κρίσιμων ριζικών αιτιών.
Το λογισμικό Calibre Vision AI της Siemens EDA προσφέρει μια μετασχηματιστική λύση για σύγχρονο εντοπισμό σφαλμάτων DRC σε επίπεδο τσιπ. Αξιοποιώντας την εξαιρετικά αποδοτική μορφή αποτελεσμάτων OASIS και την προηγμένη ανάλυση σήματος που βασίζεται στην τεχνητή νοημοσύνη, το Calibre Vision AI επιτρέπει στις ομάδες να φορτώνουν και να αναλύουν δισεκατομμύρια παραβιάσεις της ΛΔΚ σε δευτερόλεπτα, να ομαδοποιούν έξυπνα σχετικά σφάλματα και να δίνουν διαισθητικά προτεραιότητα στις προσπάθειες εντοπισμού σφαλμάτων. Τα βελτιωμένα εργαλεία οπτικοποίησης, πλοήγησης και συνεργασίας βοηθούν τους σχεδιαστές να εντοπίζουν με ακρίβεια και να επιλύουν παραβιάσεις σε ολόκληρο το τσιπ, επιταχύνοντας δραματικά τους φυσικούς κύκλους επαλήθευσης ακόμη και για τα πιο περίπλοκα σχέδια.
