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Tessent Advanced DFT

Tessent Streaming Scan Network

Das Tessent Streaming Scan Network paketiert Testdaten, um den Aufwand für die DFT-Implementierung drastisch zu reduzieren und die Kosten für Herstellungstests zu senken. Durch die Entkopplung der DFT-Anforderungen auf Core- und Chip-Ebene kann jeder Kern mit der für diesen Kern optimalsten Komprimierungskonfiguration entworfen werden.

Warum Tessent Streaming Scan Network?

Das Tessent Streaming Scan Network verspricht eine echte hierarchische Plug-and-Play-DFT. Durch die Entkopplung der DFT-Konfiguration auf Kernebene von den DFT-Ressourcen auf Chip-Ebene wird der DFT-Planungs- und Implementierungsaufwand drastisch reduziert und gleichzeitig die Kosten für die Herstellungstests gesenkt.

Beschleunigte Markteinführungszeit

Realisieren Sie eine 10-fache Produktivitätssteigerung mit vereinfachter Planung auf Chip-Ebene. Durch die Entkopplung von DFT auf Kern- und Chip-Ebene kann die Komprimierung auf Core-Ebene optimiert werden, ohne andere Kerne oder Ressourcen auf Chip-Ebene zu berücksichtigen.

Niedrigere Testkosten

Durch die Kombination von automatischem Bandbreiten-Tuning und lokaler Generierung von DFT-Signalen werden Leerzeichen im Muster praktisch eliminiert.

Reduzieren Sie das Leistungsprofil um bis zu 90%

SSN bietet ein flüssigeres Leistungsprofil mit gestaffelten Shift-/Capture-Uhren und besserer Parallelität. Gleichzeitige Kerne, die getestet werden sollen, können programmgesteuert und nicht während des Entwurfs ausgewählt werden, ohne das Routing auf Chip-Ebene zu beeinträchtigen.

Wie SSN die Markteinführungszeit beschleunigt

Ein traditioneller hierarchischer Scan-Testansatz birgt spezifische Herausforderungen, die mithilfe eines paketierten Testliefermechanismus drastisch verbessert werden können. Das Tessent Streaming Scan Network (SSN) reduziert den DFT-Planungs- und Implementierungsaufwand mithilfe der paketierten Testlieferung um das Fünffache. Sehen Sie, was Pete Orlando über die neuesten Nachrichten auf Tessent SSN zu sagen hat.

Verwenden der Veloce DFT-App, um die Qualität schnell zu beschleunigen

Robert Serphillips, DFT/Fault Product Manager, erklärt, wie die Verwendung der Veloce DFT-App die Qualität schnell beschleunigen und die Testkosten senken kann.

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Wir stehen bereit, um Ihre Fragen zu beantworten.

Mit der Tessent Streaming Scan Network-Technologie sind wir in der Lage, unseren Kunden eine skalierbare Testzugriffslösung anzubieten, die sich ideal für die modernen IC-Designs von heute und morgen eignet. SSN reduziert den Aufwand, der erforderlich ist, um komplexe Designs hochgradig testbar zu machen, erheblich.
Sangyun Kim, Vizepräsident des Teams für Designtechnologie , Samsung Electronics

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