Tessent Streaming Scan Network
Das Tessent Streaming Scan Network paketiert Testdaten, um den Aufwand für die DFT-Implementierung drastisch zu reduzieren und die Kosten für Herstellungstests zu senken. Durch die Entkopplung der DFT-Anforderungen auf Core- und Chip-Ebene kann jeder Kern mit der für diesen Kern optimalsten Komprimierungskonfiguration entworfen werden.
Warum Tessent Streaming Scan Network?
Das Tessent Streaming Scan Network verspricht eine echte hierarchische Plug-and-Play-DFT. Durch die Entkopplung der DFT-Konfiguration auf Kernebene von den DFT-Ressourcen auf Chip-Ebene wird der DFT-Planungs- und Implementierungsaufwand drastisch reduziert und gleichzeitig die Kosten für die Herstellungstests gesenkt.
Beschleunigte Markteinführungszeit
Realisieren Sie eine 10-fache Produktivitätssteigerung mit vereinfachter Planung auf Chip-Ebene. Durch die Entkopplung von DFT auf Kern- und Chip-Ebene kann die Komprimierung auf Core-Ebene optimiert werden, ohne andere Kerne oder Ressourcen auf Chip-Ebene zu berücksichtigen.
Niedrigere Testkosten
Durch die Kombination von automatischem Bandbreiten-Tuning und lokaler Generierung von DFT-Signalen werden Leerzeichen im Muster praktisch eliminiert.
Reduzieren Sie das Leistungsprofil um bis zu 90%
SSN bietet ein flüssigeres Leistungsprofil mit gestaffelten Shift-/Capture-Uhren und besserer Parallelität. Gleichzeitige Kerne, die getestet werden sollen, können programmgesteuert und nicht während des Entwurfs ausgewählt werden, ohne das Routing auf Chip-Ebene zu beeinträchtigen.
Wie SSN die Markteinführungszeit beschleunigt
Ein traditioneller hierarchischer Scan-Testansatz birgt spezifische Herausforderungen, die mithilfe eines paketierten Testliefermechanismus drastisch verbessert werden können. Das Tessent Streaming Scan Network (SSN) reduziert den DFT-Planungs- und Implementierungsaufwand mithilfe der paketierten Testlieferung um das Fünffache. Sehen Sie, was Pete Orlando über die neuesten Nachrichten auf Tessent SSN zu sagen hat.
Die Zukunft von Packetized Test
Da die paketierte Bereitstellung von Testdaten zum Industriestandard für komplexe digitale Halbleiterdesigns wird, erklärt Geir Eide, Senior Director, Product Management, warum führende Halbleiterunternehmen Tessent SSN eingeführt haben, um die Produktivität der DFT-Implementierung und die Testzeit bei der Fertigung zu verbessern.
Die Benutzer erzielen eine bis zu 10-fache Steigerung der DFT-Implementierung und Produktivität und eine bis zu 5-fache Verkürzung der Testzeit.
Mit der Tessent Streaming Scan Network-Technologie sind wir in der Lage, unseren Kunden eine skalierbare Testzugriffslösung anzubieten, die sich ideal für die modernen IC-Designs von heute und morgen eignet. SSN reduziert den Aufwand, der erforderlich ist, um komplexe Designs hochgradig testbar zu machen, erheblich.