Multi-Die/Die-on-Package/Interposer-Ausrichtungsprüfungen
Das Calibre 3DStack-Tool ermöglicht es Konstrukteuren, die genaue Ausrichtung zwischen verschiedenen Matrizen in einer Baugruppe mit mehreren Düsen zu überprüfen.
Ausweitung der physischen Verifizierung von der IC-Welt auf die Welt der fortschrittlichen Verpackungen, um die Herstellbarkeit von Multi-Die-Gehäusen zu verbessern. Verwenden Sie ein Calibre-Cockpit für DRC, LVS und PEX auf Baugruppenebene, ohne die herkömmlichen Verpackungsformate und Tools zu unterbrechen.
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Bei Verpackungstechnologien wie Fan-Out-Wafer-Level-Packaging (FOWLP) kann das Verpackungsdesign und der Überprüfungsprozess eine Herausforderung sein. Da die FOWLP-Fertigung auf „Wafer-Ebene“ stattfindet, beinhaltet sie die Maskengenerierung, ähnlich dem SoC-Fertigungsablauf. Solide Verpackungsdesign- und Verifizierungsabläufe müssen vorhanden sein, damit Designer die FOWLP-Herstellbarkeit durch die Gießerei oder das OSAT-Unternehmen sicherstellen können. Die Xpedition® Enterprise Printed Circuit Board (PCB) -Plattform bietet eine Co-Design- und Verifizierungsplattform, die sowohl Umgebungen für das Gehäusedesign als auch physische SoC-Verifizierungstools für FOWLP nutzt. Die Calibre 3DStack-Funktionalität erweitert die Calibre-Die-Level-Signoff Verification, um DRC- und LVS-Prüfungen kompletter Multi-Die-Systeme, einschließlich Wafer-Level-Packaging, an jedem Prozessknoten zu ermöglichen, ohne dass die aktuellen Werkzeugabläufe unterbrochen werden oder neue Datenformate erforderlich sind.
Wafer-Level-Packaging (WLP) ermöglicht einen höheren Formfaktor und eine verbesserte Leistung im Vergleich zu System-on-Chip (SoC) -Designs für integrierte Schaltungen (IC). Es gibt zwar viele Designstile für Verpackungen auf Wafer-Ebene, aber Fan-Out-Verpackungen auf Wafer-Ebene (FOWLP) sind eine beliebte siliziumvalidierte Technologie. Damit die FOWLP-Designer jedoch eine akzeptable Ausbeute und Leistung sicherstellen können, müssen Unternehmen für elektronische Designautomatisierung (EDA), ausgelagerte Halbleitermontage und -tests (OSATs) und Gießereien zusammenarbeiten, um konsistente, einheitliche, automatisierte Design- und physische Verifikationsabläufe zu etablieren. Die Vereinigung von Paketdesignumgebungen mit SoC-Tools für die physische Verifizierung stellt sicher, dass die notwendigen Plattformen für Co-Design und Verifizierung vorhanden sind. Mit den erweiterten Designfunktionen für Leiterplatten (PCB) der Xpedition Enterprise Enterprise-Plattform und den erweiterten GDSII-basierten Verifikationsfunktionen der Calibre-Plattform in Kombination mit der Calibre 3DStack-Erweiterung können Designer jetzt die Calibre-Die-Level-Signoff DRC- und LVS-Verifizierung auf eine Vielzahl von gestapelten 2,5D- und 3D-Stack-Die-Baugruppen, einschließlich FOWLP, anwenden, um Herstellbarkeit und Leistung sicherzustellen.
Das Calibre 3DStack-Tool erweitert die Signoff-Verifizierung auf Calibre-Ebene um die vollständige Signoff-Verifizierung einer Vielzahl von 2,5D- und 3D-Stacked-Stanzdesigns. Designer können Signoff DRC- und LVS-Prüfungen kompletter Multi-Die-Systeme an jedem Prozessknoten unter Verwendung vorhandener Werkzeugabläufe und Datenformate ausführen.
Das Calibre 3DStack-Tool ermöglicht es Konstrukteuren, die genaue Ausrichtung zwischen verschiedenen Matrizen in einer Baugruppe mit mehreren Düsen zu überprüfen.
Das Calibre 3DStack-Tool unterstützt die Konnektivitätsprüfung auf Systemebene für die Montage von Multi-Die-Gehäusen, sodass Konstrukteure überprüfen können, ob Düsen, Interposer und Pakete wie vorgesehen angeschlossen sind.
Das Calibre 3DStack-Tool ermöglicht es Designern, die Standalone-Interposer-/Package-Konnektivität zu überprüfen, ohne die einzelnen Formendesign-Datenbanken einzubeziehen.
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Die Calibre-Toolsuite bietet eine genaue, effiziente und umfassende IC-Verifizierung und -Optimierung über alle Prozessknoten und Designstile hinweg und minimiert gleichzeitig den Ressourcenverbrauch und die Zeitpläne für das Tapeout.
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