Skip to main content
Denne side vises ved hjælp af automatiseret oversættelse. Vil du have den vist på engelsk i stedet?
En person står foran en stor skærm, der viser en graf med en rød linje.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldInsight

Tessent Yieldinsight analyserer statistisk diagnosedata for at identificere og adskille systematiske udbyttebegrænsere, før der foretages en fejlanalyse. Tessent Yieldinsight er specialiseret til at forstå og identificere udbyttetab fra scanningstestdata og gør volumendiagnoseresultater brugbare.

Hvorfor Tessent Yieldinsight?

Ved hjælp af specialiserede dataminings- og statistiske analyseteknikker eliminerer Tessent Yieldinsight støj fra diagnosedata for at bestemme de underliggende årsager, identificere systematiske udbyttebegrænsere og vælge de bedste enheder til fejlanalyse.

Identificer skjulte udbyttebegrænsere

Tessent Yieldinsight identificerer årsagen til systematisk udbyttetab og giver vejledning gennem processen med valg af matrice til fejlanalyse.

Fjern støj fra diagnoseresultater

RCD-teknologi (Root Cause Deconvolution) fjerner støj fra diagnoseresultaterne og bestemmer de underliggende årsager. Det udvælger og filtrerer populationer af svigtende dyser og grupperer dyser, der fejler af lignende årsager.

Arbejder med Tessent Diagnosis

Analyserer de layout-bevidste og cellebevidste diagnoseresultater fra Tessent Diagnosis for at identificere og adskille systematiske udbyttebegrænsere, før der foretages en fejlanalyse, hvilket eliminerer behovet for kostbar fysisk lokalisering.

Webinar

En ny reversibel scanningskædeteknologi

Dette fælles webinar mellem Siemens EDA og Qualcomm er hostet af ASM International og fremhæver:

  • Motivation for brug af kædediagnose i udbytterampe
  • Oversigt over kædediagnose, reversibel kæde
  • Reversibel kædeteknologi og diagnose
  • Implementering af reversible kæder
  • Siliciumresultater fra testchip
 Nærbillede af en processorchip på et printkort med blå baggrund.

Få mere at vide